[发明专利]镜头检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理领域，并且特别地，涉及一种镜头检测方法和装置。

背景技术

在摄像镜头形成物体实像时，除了成像光线之外，还有其他非成像光线在光学系统像面上扩散，这些非成像光线就叫做杂散光。杂散光通常来自系统外部的辐射源、内部辐射源、以及散射表面的非成像光能量，例如，光学元件、结构件等各折射面的反射光、仪器内壁的反射光、镜片本身的漫反射或者镜筒的反射都有可能产生杂散光，另外，因为灰尘沾染光学件、光学元件损伤、漏胶、孔径不匹配、光学系统相差大等原因，也会导致出现杂散光的问题。

由于镜头所产生杂散光的多少是影响成像质量的重要因素，所以随着各种图像采集设备的普及，对于镜头的杂散光分析和控制已成为光学工程中的关键技术。另外，在传统光学镜头加工过程中，杂散光的测试是必要的检测项目。如果一个镜头所拍摄的图像中存在大量杂散光，那么该镜头将是不合格的。因此，就需要通过杂散光测试将这些不合格的镜头检测出来，避免生产不合格的成品。

在传统技术中，检测镜头是否会产生杂散光的方式主要是对镜头或相机的实际拍摄图像的品质进行判定，进而逆向判断镜头本身的质量是否合格。但是，目前对于图像中是否存在杂散光的判断主要借助于人眼，从而导致以下问题：

1、杂散光判定对人员的能力要求较高，经验不够丰富的人员在判定杂散光时，很容易出现误判和漏检的问题；如果为了避免漏检和误判的问题，就需要在生产工艺流程中采用多次杂光测试，不仅流程较复杂，而且人力成本高，效率低下；

2、通过人工判定杂散光时，每个人员的判定都具有很大的主观性，其判定标准与结果均以实拍图片为依据，无法整合并形成统一标准。

例如，授权公告号为CN 101452200 B，名称为“镜头杂散光检测系统”的专利公开了一种检测系统，其包括一个杂散光分析光源、一个影像感测器、一个激光光源、一个激光聚焦装置、一个波前传感器、一个处理器、一个物距调节装置及一个影像感测器移动装置。所述物距调节装置用于改变激光的聚焦点与波前传感器之间的间距。所述影像感测器移动装置用于将影像感测器移动到镜头对不同物距的对应焦点位置。所述处理器包括：物距设置模块，用于设置需要的物距；物距获取模块，用于获取激光焦点到波前传感器的物距；物距调节模块，用于控制物距调节装置；焦距控制模块，用于控制影像感测器移动装置；杂散光分析模块，用于分析影像感测器的杂散光状况。该专利公开的方案能够检测镜头对不同对焦位置的杂散光影响，但是，对于如何分析确定杂散光，该专利并未提出解决方案。

申请公开号为CN 103149016 A、名称为“待测光学系统杂散光检测方法及杂散光检测系统”的专利申请公开了检测方法，该方法包括以下步骤：1)获取待测光学系统在不同视场角的像面的辐射照度；2)将待测光学系统更换为衰减片并获取含有该衰减片的辐射照度；3)根据步骤2)所得到的含有该衰减片的辐射照度获取待测光学系统在入瞳处的辐射照度；4)根据步骤1)以及步骤3)获取待测光学系统的点源透过率。该专利虽然公开了对于杂散光的检测方法，但是该检测方法需要借助衰减片和复杂的计算公式，其实现难度较大，处理效率也比较低。

针对相关技术中杂散光判定方案存在误判率高、容易漏检、效率低下、实现难度大的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中的上述问题，本发明提出一种镜头检测方法和装置，能够准确地判定杂散光，避免误检和漏检，而且本发明的实现过程简单，处理效率较高。

根据本发明的一个方面，提供了一种镜头检测方法。

根据本发明的镜头检测方法包括：

步骤1，基于预定的亮度阈值，在待测镜头所拍摄的图像中提取亮度高于该亮度阈值的像素；

步骤2，在提取的像素中，确定间距最大的两个像素，并确定该两个像素之间的间距；

步骤3，将最大间距与预定的间距阈值进行比较，并根据比较结果确定待测镜头是否合格。

其中，在步骤1中，图像为预先经过灰度转换后得到的灰度图。

并且，在执行步骤1之前，根据本发明的镜头检测方法可以进一步包括：

确定灰度图中所有像素的灰度平均值；

对于每个像素，将该像素的灰度值减去灰度平均值，之后乘以预定的对比度系数，再加上灰度平均值，得到每个像素的新像素值；

根据每个像素的新像素值对灰度图中的相应像素进行重新赋值；

并且，在步骤1中，基于像素被重新赋值后的图像提取像素。

可选地，上述对比度系数大于1且小于或等于3。