[发明专利]一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法

权利要求书

1.一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

（1）根据用户操作初始化测试系统，将作为发射端运行轨道的移动台和作为接收端运动轨道的移动台位于同一水平线上，设定两个移动台之间的距离；

（2）将待测RFID标签固定在标签固定托盘上，并将介质板固定支架固定在标签固定托盘上；

（3）根据待测RFID标签的应用场景需求，安置标签信号识别装置，并使得待测RFID标签与标签信号识别装置进行通信，且调整至最佳识别状态；

（4）按照待测RFID标签应用场景的移动速度要求，设定测试系统中控速轨道的速度步长，进行移动速度测试，并记录测试结果的最大值作为移动识别速度；

（5）按照待测RFID标签应用场景中的介质材质的检测项目，选取应用场景中涉及的介质板，并将介质板安装于介质板固定框架上，重复步骤（4）；

（6）按照待测RFID标签应用场景中的空间位置部署的检测项目，将待测RFID标签固定在介质板固定框架内的卡槽中，移动到所需要的空间位置固定，重复步骤（4）；

（7）针对不同介质材质影响的检测项目，将步骤（5）测试结果和步骤（4）测试结果进行比对，并判断所测的介质条件下的移动速度是否满足产品所提出的技术要求；

（8）针对介质中空间位置部署影响的检测项目，将步骤（6）测试结果和步骤（4）测试结果进行比对，并判断所测的空间位置部署下的移动速度是否满足产品所提出的技术要求。

2.根据权利要求1所述的一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方法，其特征在于，所述测试方法中还包括在不同介质材质影响下测试最大移动识别速度的步骤或在介质中空间位置部署影响下测试的最大移动识别速度的步骤。

3.一种用于权利要求1或2所述移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方法的测试系统，其包括：

控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；

标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；

介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；

伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；

标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；

总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述控速轨道装置包括若干运动轨道、若干驱动电机、若干移动平台以及调速单元，若干运动轨道间水平相对设置；若干移动平台分别对应安置在若干运动轨道上，以承载待驱动设备；若干驱动电机分别驱动对应的运动轨道带动其上的移动平台运动；调速单元控制连接若干驱动电机，根据设置的速度来控制若干驱动电机，以分别驱动若干运动轨道带动其上的移动台沿着轨道均匀速度地来回移动，并实时显示每个移动平台的状态及相对速度。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述调速单元为独立设置的调速控制器或为设置在总控制器中的调速控制模块。

6.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述标签固定托盘包括塑料支撑平板和固定塑料夹具，固定塑料夹具用于固定不同规格的待测标签。

7.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述介质环境模拟装置包括若干介质板以及介质板固定架，所述介质板固定架罩设在标签固定托盘上，若干介质板分布安插在介质板固定架上。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述的介质板为各种尺寸，不同等级厚度且带孔的一种或一种以上的金属板、玻璃板、塑料板、木材板和纸材板。