[发明专利]一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法，本方案基于控速轨道装置、标签固定托盘、介质环境模拟装置、伸缩调节支架、标签信号识别装置以及总控制器来实现。基于上述方案构成的移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试方案够综合测试介质影响下的移动速度指标检测，自动控制检测过程，可控性高，可重复性强，介质多样可调、并极大地提高检测效率，从而提高RFID系统在典型应用场景中规模化应用的增长率，且针对的介质多样规格化，结构简单，实现方法简便，操作便捷。

技术领域

本发明涉及射频识别(RFID)技术及其测试技术领域，具体涉及对RFID标签介质影响进行移动测试技术。

背景技术

从20世纪80年代兴起，RFID技术在国内外各行业应用范围正不断扩大。就中国而言，2014年RFID产业市场规模将达311亿元，并保持超过30％增长率的发展态势。随着国家物联网示范工程建设推进，RFID技术广泛应用于金融、物流、零售、交通、医疗、军事、图书、资产管理、公共安全等行业领域，其中RFID标签应用于电子不停车收费系统(ETC)、电子车牌识别、物流中自动化识别、分转运管理、生产线上自动化流水作业及人员出入自动识别管理等移动应用场景。

在移动应用场景中，RFID标签介质不同且处于运动状态下能够与读写器进行通讯。为了实现RFID典型成功应用案例在大规模的移动应用场景中规模化推广，需要对RFID标签介质影响的移动速度指标进行测试。

针对RFID标签的移动速度性能测试，一般有直线高速模拟的方法和高速旋转转速模拟的方法。针对RFID标签介质影响性能测试，一般有收发天线模拟信号的RFID介质基准测试系统。在现有的测试方法中，两个单项指标测试方法在标准RFID测试实验室中无法直接组合进行测试，移动速度测试结果一致性不可控，速度采用步长与实际应用中的速度值和GB/T 2927-2012中表2规定存在不可调的偏差。传统的操作方法导致测试的局限性大、不连续、不同步、可控性较低，应用场景模拟失真较大，且测试效率低，有此极大地制约了大地制约了RFID系统在典型移动应用场景中规模化应用的增长率。

发明内容

针对现有RFID标签的移动速度性能测试技术所存在的问题，需要一种新的RFID标签介质影响的动态测试技术。

为此，本发明所要解决的技术问题是提供一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统及方法，能够综合测试移动状态RFID标签抗介质干扰性能，且可操作性强，检测效率高。

为了解决上述技术问题，本发明提供的一种移动状态下的RFID标签抗介质干扰性能测试系统，其包括：

控速轨道装置，所述控速轨道装置以设定速度且匀速运动，以模拟待测RFID标签应用时的移动状态；

标签固定托盘，所述标签固定托盘用于承载待测RFID标签，其安置在控速轨道装置上，并在控速轨道装置的驱动下沿控速轨道装置移动；

介质环境模拟装置，所述介质环境模拟装置罩设在标签固定托盘上，模拟待测RFID标签应用时的介质环境；

伸缩调节支架，所述伸缩调节支架对应的架设在控速轨道装置上；

标签信号识别装置，所述标签信号识别装置对应的安置在控速轨道装置和/或伸缩调节支架上；

总控制器，所述总控制器控制连接控速轨道装置以及标签信号识别装置。

在测试系统中，所述控速轨道装置包括若干运动轨道、若干驱动电机、若干移动平台以及调速单元，若干运动轨道间水平相对设置；若干移动平台分别对应安置在若干运动轨道上，以承载待驱动设备；若干驱动电机分别驱动对应的运动轨道带动其上的移动平台运动；调速单元控制连接若干驱动电机，根据设置的速度来控制若干驱动电机，以分别驱动若干运动轨道带动其上的移动台沿着轨道均匀速度地来回移动，并实时显示每个移动平台的状态及相对速度。