[发明专利]放射成像方法及其系统有效
申请号: | 201611020809.6 | 申请日: | 2016-11-21 |
公开(公告)号: | CN108078580B | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 吴明烨;金燕南;布莱恩·爱德华·内特;杰德·道格拉斯·帕克 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 侯颖媖 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射 成像 方法 及其 系统 | ||
1.一种放射成像方法,其特征在于,其包括:
通过辐射源放射波束到物体上;
通过探测器检测穿过所述物体的所述波束,并输出投射数据;
获得无物体时的散射强度;
获得有物体时的散射透射率;
基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率,计算有物体时的所述散射强度;
基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据;及
使用所述经校正的投射数据生成图像。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:其中获得无物体时的散射强度包括测量无物体时的所述波束的第一投射强度;测量无物体时并且去除散射时的所述波束的第二投射强度;根据第二投射强度和第一投射强度得到无物体时的散射强度。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:获得有物体时的所述散射透射率包括通过划分散射的接收角度,将所述散射分成至少一个散射波束;分别寻找沿每条散射波束的每条初级波束;基于所述每条初级波束的透射率获得有物体时的所述散射透射率。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:分别寻找沿每条散射波束的每条初级波束包括分别寻找与所述每条散射波束邻近的每条初级波束。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:分别寻找与所述每条散射波束邻近的每条初级波束包括寻找通过沿每条散射波束的物体的中点的初级波束。
6.如权利要求3所述的方法,其特征在于:分别寻找沿每条散射波束的每条初级波束包括在不同视图中分别寻找通过所述每条散射波束的每条初级波束。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于:在不同视图中分别寻找通过所述每条散射波束的每条初级波束包括分别确定所述每条散射波束的位置,并分别根据每条散射波束的所述位置获得在不同视图中的每条初级波束。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于:分别确定所述每条散射波束的位置包括分别计算每条散射波束的伽马角和视角。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于:获得在不同视图中的每条初级波束包括建立相对于所述伽马角和所述视角的初级波束的数据库,及通过插值并根据每条散射波束的所述伽马角和所述视角获得每条初级波束。
10.如权利要求3所述的方法,其特征在于:基于所述每条初级波束的透射率获得有物体时的所述散射透射率包括分别给沿每条散射波束的每条初级波束的透射率赋予权重,基于每条初级波束的透射率和所述权重计算平均透射率,及依据初级波束光谱和散射光谱间的透射率比而调整所述平均透射率至所述散射透射率。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于:所述权重分别基于每条散射波束的入射角而确定。
12.如权利要求10所述的方法,其特征在于:所述权重分别通过计算每条散射波束的效率确定,并将每个效率归一化,其中所述效率通过将具有一定角度的散射波束能够到达探测器的宽度除以探测器的宽度计算得出。
13.如权利要求10所述的方法,其特征在于:计算平均透射率包括将所述每条初级波束的每个透射率分别乘以其权重,并将结果相加获得所述平均透射率。
14.如权利要求10所述的方法,其特征在于:调整所述平均透射率至所述散射透射率包括建立与物体厚度,滤过器厚度,以及初级波束光谱和散射光谱相关的透射率比的数据库,计算所述波束通过的物体厚度和滤过器厚度,以及初级波束光谱和散射光谱,根据所述数据库确定透射率比,并且将所述透射率比乘以所述平均透射率获得所述散射透射率。
15.一种放射成像系统,其特征在于,包括:
用来辐射波束到物体的辐射源;
用来检测穿过所述物体的所述波束的探测器;
用来输出投射数据的数据处理系统;及
控制器,其被配置用来获得无物体时的散射强度;获得有物体时的散射透射率;基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率而计算有物体时的所述散射强度;基于有物体时的所述散射强度而校正所述投射数据;及使用所述经校正的投射数据生成图像。
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