[发明专利]放射成像方法及其系统

说明书

本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源放射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投射数据；获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率，计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。

技术领域

本发明涉及一种放射成像技术，更具体的就是放射成像方法及其系统。

背景技术

非侵入性成像技术，如计算机断层摄影(CT)，其可以获得物体的内部结构的图像，而不对物体进行破坏操作。在CT成像系统中，X射线测量中的散射信号可能导致阴影伪像，降低图像分辨率，并导致所有降低图像质量的其它伪像。同时，来自背景的散射信号是CT成像系统的重建图像的定量测量的偏差的主要来源之一。

在CT扫描期间，即使是在使用防散射栅格的情况下，背景(如蝶形滤过器、台架或CT系统中的其他组件)在接收X射线后会产生散射。CT扫描中的X射线散射是许多类型的图像伪影并降低图像分辨率的根本原因，这可能导致临床CT中的误诊，因而其需要被校正。

发明内容

在一个实施例中，本公开提供了一种放射成像方法，其包括以下步骤，通过辐射源放射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投射数据；获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率，计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。

在另一个实施例中，本公开提供了一种放射成像系统，其包括用来辐射波束到物体的辐射源；用来检测穿过所述物体的所述波束的探测器；用来输出投射数据的数据处理系统；及控制器，其被配置用来获得无物体时的散射强度；获得有物体时的散射透射率；基于无物体时的所述散射强度和有物体时的所述散射透射率而计算有物体时的所述散射强度；基于有物体时的所述散射强度而校正所述投射数据；及使用所述经校正的投射数据生成图像。

附图说明

当参照附图阅读以下详细描述时，本发明的这些和其它特征、方面及优点将能够更好理解，其中：

图1是根据本公开实施例的放射成像系统的透视图；

图2是示出如何获得无物体时的背景散射强度的放射成像系统的示意图；

图3是示出如何在不同视图中沿散射波束寻找初级波束的放射成像系统的示意图；

图4是示出如何寻找散射波束的相邻初级波束的放射成像系统的示意图；

图5是示出散射波束的入射效率的计算的示意图；

图6是根据本公开的实施例的放射成像方法的流程图；

图7是根据本公开的实施例的放射成像系统的框图。

具体实施方式

为帮助本领域的技术人员能够确切地理解本发明所要求保护的主题，下面结合附图详细描述本发明的具体实施方式。在以下对这些具体实施方式的详细描述中，本说明书对一些公知的功能或构造不做详细描述以避免不必要的细节而影响到本发明的披露。

除非另作定义，本权利要求书和说明书中所使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”和“一”等类似词语并不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“或”等词语表示包括性的，并且是指所列出的项目中的一个或全部。“具有”、“包括”或“含有”等类似的词语意指出现在“包括”或者“具有”前面的元件或者物体涵盖出现在“包括”或者“具有”后面列举的元件或者物体及其等同元件，并不排除其他元件或者物体。