[发明专利]一种新的违规电子设备检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种新的违规电子设备检测方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤一、对磁异常信号和谐波信号进行AD量化；

步骤二、对磁异常信号和谐波信号进行预处理及特征提取；

步骤三、利用双模数据特征融合进行目标检测：

(1)按如下公式计算二次谐波和三次谐波峰态系数：

其中Y_j为第j个频点的幅值，为均值，S为标准方差，M为统计频点个数；

(2)统计各通道二次谐波和三次谐波检测频段过门限的点数N2_i和N3_i；

(3)当N2_i或N3_i大于0时，比较二次谐波峰态系数Pk2_i和三次谐波峰态系数Pk3_i：如果Pk2_i>Pk3_i，则给出“该通道存在大量半导体结”的检测结果，然后进行声光告警；如果Pk2_i<Pk3_i，则进入第(4)步；

(4)当第i通道的磁异常信号s_i(t)>该通道的磁异常信号检测门限γ_c,i时，求s_i(t)的自相关系数R_i，当R_i<0.5时，给出“该通道存在疑似钥匙串物品”的检测结果；当R_i≥0.5,则进入第(5)步；

(5)如果对称通道的磁异常信号的自相关系数R_10-i≥0.5，则给出第i通道的判决结果为0；如果R_10-i<0.5时，则给出第i通道的判决结果为1，然后进行声光告警。

2.根据权利要求1所述的一种新的违规电子设备检测方法，其特征在于：步骤一所述对磁异常信号和谐波信号进行AD量化的方法为：将整个检测区域划分为10个子区域，按一定的扫描顺序轮流工作；系统工作时，金属结或半导体结受到特定频率的电磁波照射，从而散射出二次谐波信号和三次谐波信号，谐波信号经接收天线进入射频端接收通道，在接收通道里完成分频、滤波和下变频处理后从射频变换到中频，然后由FPGA信号处理及控制板进行AD量化变为数字信号；由金属物品引起的磁异常信号通过磁传感将模拟信号传至FPGA信号处理及控制板进行AD量化变为数字信号。

3.根据权利要求1所述的一种新的违规电子设备检测方法，其特征在于：步骤二所述对磁异常信号和谐波信号进行预处理及特征提取的方法为：

第一，谐波数字信号进入数控板，在数控板内实现滤波、下变频以及抽取处理，然后做FFT变换，提取二次谐波和三次谐波检测频段的能量，留存备用；对磁异常信号进行带通滤波；

第二，在不存在被检测物时，采用恒虚警能量检测器确定各通道的二次谐波和三次谐波检测门限；根据确定的人体携带金属物品的磁异常范围，采用恒虚警的方式得出各通道的磁异常信号检测门限。

4.根据权利要求3所述的一种新的违规电子设备检测方法，其特征在于：对磁异常信号进行带通滤波的带通滤波器通带范围为4Hz～10Hz。