[发明专利]一种新的违规电子设备检测系统及检测方法

说明书

本发明公开了一种新的违规电子设备检测系统及检测方法，检测系统包括分别与FPGA信号处理及控制板连接的计算机、第一发射模块、第二发射模块、射频接收模块和磁传感器，所述第一发射模块依次与第一单刀十掷开关、第一带通滤波器和第一发射天线连接；所述第二发射模块依次与第二单刀十掷开关、第二带通滤波器和第二发射天线连接；所述射频接收模块依次与宽带单刀十掷开关、宽带滤波器和接收天线连接。本发明能满足违规电子设备检测性能的需求，可在保证误报概率较低的同时，以解决现有金属探测器对违规电子产品漏报率高且对随身金属制品误报率高的问题，实现违规电子产品的有效检测。

技术领域

本发明涉及一种谐波探测及磁探测系统，特别是涉及一种双模安检门系统。

背景技术

近几年随着各种智能电子设备的普及，电子设备泄密正在成为新的泄密途径，成为最大的安全隐患。各重要部门和场所可能会受到来自外部的各种电子设备窃视、窃密、窃听的威胁。对于涉密环境的防失泄密管理，通过管理手段，信息化手段存在高投入、不能完全有效、事后检查、影响正常事务处理等各种弊端。现有的安检技术大致可分为以下几种：1)金属磁探测；2)X光机检测；3)非线性结探测以及4)“毫米波成像”技术等。然而，针对电子设备检测的问题，多采用金属磁探测以及非线性结探测技术。现有的金属探测在探测电子设备方面有其局限性，如：SD卡、塑料壳U盘等，它们的磁感应特性很微弱，很难被金属探测门检测出来，如采用提高灵敏度的办法，将会导致安检系统的虚警率急剧升高。基于非线性结探测技术的英国AUDIOTEL检测门采用单频体制，基波频率接近GSM通信频率，因此，其接收信号容易受手机通讯信号的影响，使得该检测门抗干扰能力急剧下降，并且价格昂贵。将“毫米波成像”技术通过对被测物进行成像，从图像上分辨可疑物。本发明是利用被测物固有的非线性散射特性和磁性特性实现安全检测的目标，能有效地实现SD卡、针孔摄像头、U盘、手机、相机、窃听器等电子产品的检测。

非线性结探测器的发展得益于谐波再辐射效应的发现及深入研究。早在20世纪30年代末，人们就证实了谐波再辐射效应的存在，但在当时对于产生这种效应的原理还不清楚。直到20世纪70年代随着雷达技术的发展和测试技术的提高，人们才逐渐对谐波再辐射效应的原理有了进一步研究——提出非线性目标的物理模型。并从非线性网络的观点出发，建立非线性接点的网络模型，通过网络模型研究入射电磁波和散射电磁波的关系来计算非线性接点的转移函数。

已有研究结果表明：在单频模式下，主要采用接收二次谐波三次谐波的方式，半导体PN结的二次谐波能量最强，三次谐波次之；人造金属结主要产生奇次谐波，其中三次谐波能量最强。而在双频模式下，主要采用接收组合波形式，其二次组合波电流幅度是二次单频率谐波电流幅度的2倍，即二次组合波功率可增加4倍；三次组合波电流幅度是三次单频率谐波电流幅度的3倍，即三次组合波功率可增加9倍。

谐波再辐射效应的研究促进了非线性结探测器的发展与应用。在20世纪90年代以前，非线性结探测器主要是以单频模式工作，如：国外以美国为代表的ISR公司，在70、80年代时，分别推出了大功率三次谐波探地雷达——METRRA金属再辐射雷达和BOOMERANG1-3型微电路探测器。国内中国电子科技集团第50研究所推出的MCD-1金属接点探测器，以上几种金属结点探测器都是简单的一收一发模式，功能简单，灵敏度不够高，体积大，质量重。