[发明专利]一种LED芯片及其制作方法在审
申请号: | 201611066825.9 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106784231A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 田艳红;于娜;顾小云;王力明 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/62;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 及其 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,特别涉及一种LED芯片及其制作方法。
背景技术
随着第三代半导体技术的兴起和不断成熟,半导体照明以能耗小、无污染、高亮度、长寿命等优势,成为人们关注的焦点,也带动了整个行业上中下游产业的蓬勃发展。其中,GaN基蓝光发光二极管(英文:Light Emitting Diode,简称:LED)的制造、以及由蓝光LED激发荧光粉发出白光是LED照明的核心技术之一,不断提高GaN基蓝光LED的发光亮度和降低电压是自始至终追求的目标。
现有LED芯片的制作过程通常包括:在蓝宝石衬底上依次生长n型氮化物半导体层、有源层、p型氮化物半导体层;利用光刻技术在p型氮化物半导体层形成延伸至n型氮化物半导体层的凹槽;利用光刻技术在p型氮化物半导体层上形成电流阻挡层;利用光刻技术在电流阻挡层和p型氮化物半导体层上形成透明导电层;利用光刻技术在p型氮化物半导体层上形成p型焊盘、在透明导电层上形成p型电极线、在n型氮化物半导体层上形成n型焊盘和n型电极线;利用光刻技术在n型氮化物半导体层和透明导电层上形成钝化层。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
为了避免透明导电层在凹槽侧壁上导致LED芯片漏电,通常会将透明导电层的边缘设计在距离p型氮化物半导体层的边缘至少8μm的位置,注入LED芯片的电流无法扩展到p型氮化物半导体层的边缘,p型氮化物半导体层的边缘没有空穴注入有源层与电子进行复合发光,边缘的大部分发光区域被浪费,LED芯片的发光效率较低。
发明内容
为了解决现有技术的问题,本发明实施例提供了一种LED芯片及其制作方法。所述技术方案如下:
一方面,本发明实施例提供了一种LED芯片,所述LED芯片包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的N型GaN层、有源层、P型GaN层,所述P型GaN层上开设有延伸到所述N型GaN层的凹槽,所述P型GaN层上对应设置P型焊盘和P型电极线的区域、以及所述P型GaN层的边缘经过所述凹槽的侧壁延伸到所述N型GaN层的区域上均设有绝缘层,所述P型GaN层、以及设置所述P型GaN层上的所述绝缘层上均设有透明导电层,所述透明导电层和所述绝缘层内设有延伸到所述P型GaN层的通孔,所述P型焊盘通过所述通孔设置在所述P型GaN层上,所述P型电极线设置在所述透明导电层上,N型焊盘和N型电极线设置在所述N型GaN层上。
可选地,设在所述P型GaN层的边缘上的所述绝缘层的边界与所述P型GaN层的边界的距离为4~12μm。
可选地,所述透明导电层的边界与所述P型GaN层的边界的距离为1~4μm。
可选地,所述绝缘层的材料采用二氧化硅、氮氧化硅或者氮化硅。
可选地,所述透明导电层的材料采用氧化铟锡或者NiAu。
另一方面,本发明实施例提供了一种LED芯片的制作方法,所述制作方法包括:
在蓝宝石衬底上依次外延生长N型GaN层、有源层、P型GaN层;
利用光刻技术在所述P型GaN层上开设有延伸到所述N型GaN层的凹槽;
利用光刻技术在所述P型GaN层上对应设置P型焊盘和P型电极线的区域、以及所述P型GaN层的边缘经过所述凹槽的侧壁延伸到所述N型GaN层的区域上形成绝缘层;
利用光刻技术在所述P型GaN层、以及设置所述P型GaN层上的所述绝缘层上形成透明导电层,所述透明导电层和所述绝缘层内设有延伸到所述P型GaN层的通孔;
利用光刻技术通过所述通孔在所述P型GaN层上形成所述P型焊盘,在所述透明导电层上形成所述P型电极线,在所述N型GaN层上形成N型焊盘和N型电极线。
可选地,设在所述P型GaN层的边缘上的所述绝缘层的边界与所述P型GaN层的边界的距离为4~12μm。
可选地,所述透明导电层的边界与所述P型GaN层的边界的距离为1~4μm。
可选地,所述绝缘层的材料采用二氧化硅、氮氧化硅或者氮化硅。
可选地,所述透明导电层的材料采用氧化铟锡或者NiAu。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华灿光电(浙江)有限公司,未经华灿光电(浙江)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611066825.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。