[发明专利]一种基于Libs系统的废金属智能拣选设备及方法有效

专利信息
申请号: 201611070550.6 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN108114909B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 孙兰香;于海斌;郑黎明;丛智博;郭志卫 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/36
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 许宗富
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 废金属 分拣机构 图像采集系统 输送带系统 主控计算机 拣选设备 有效识别 分选 高频电磁阀 分拣效率 化学特性 图像采集 智能 分拣 气吹 传送 分析 配合 协调
【权利要求书】:

1.一种基于Libs系统的废金属智能拣选设备,其特征在于,包括:

输送带系统(100),用于承载并传递废金属样品(000),并且其运转速度由主控计算机(500)控制;所述输送带系统(100)包括:上料滑道机构(101),2个齿形带轮(102),齿形带(103),伺服电机(104),编码器(105);所述伺服电机(104)经联轴器连接到主动齿形带轮(102-1)上,齿形带(103)的一端与主动齿形带轮(102-1)啮合,它的另一端与从动齿形带轮(102-2)啮合,齿形带(103)被张紧,伺服电机(104)驱动齿形带(103)平稳运转;编码器(105)实时获取伺服电机转速,并上报给主控计算机(500),主控计算机(500)根据传动比换算,得出齿形带(103)实时的运转速度V;所述废金属样品(000)呈单层排队方式放置在输送带系统(100)上;

图像采集系统(200),用于对废金属样品(000)进行图像采集,并将图像上传至主控计算机(500);所述图像采集系统(200)包括:一个CCD相机(201)、护罩(202)、若干灯组(203);所述CCD相机(201)被放置于输送带系统(100)中心线的正上方,距离齿形带 (103)表面距离为H1,即预设视场范围可调;在预设视场内部设有一个零点基准(204),其固定在非运动部件上,空间坐标固定不变;在每一次图像采集时刻,可以获得预设视场内各个废金属样品(000)距离零点基准(204)的空间距离,从而能够获得样品的空间位置坐标;所述图像采集系统(200)预设视场的中心线与Libs系统(300)聚焦光路的中心线在输送带运动方向即X方向上的距离为L1,且不得小于L1min,L1min=0.5L+Lmin,Lmin为根据分选设备的工作频率f和输送带系统(100)的运转速度v计算,即Lmin=v/f,L为预设视场在输送带运动方向上的距离,确保Libs系统(300)对预定视场内任意位置的废金属样品(000)具有足够的响应时间;

Libs系统(300),用于对废金属样品(000)发射脉冲激光束形成等离子体,然后对等离子体的发射光谱进行采集和分析,并将废金属样品(000)的光谱上传至主控计算机(500);

分拣机构(400),用于根据主控计算机500输出的分拣路径进行分拣;

主控计算机(500),用于为整个分拣设备中的各系统和机构提供时序控制;控制输送带系统(100)运转速度;控制图像采集系统(200)采集废金属样品(000)图像并进行图像处理,获取每一个废金属样品(000)的位置坐标、尺寸和形状;控制Libs系统(300)对废金属样品(000)进行光谱发射、收集和分析,从而判断出该废金属样品(000)的分类以及分拣路径;控制分拣机构(400)按照规定的分拣路径进行分拣工作。

2.根据权利要求1所述的一种基于Libs系统的废金属智能拣选设备,其特征在于,所述Libs系统(300)包括:脉冲激光光路(301)、收集光路(302)、反射镜(303)、二向色镜(304)、光谱分析仪(306);所述反射镜(303)与二向色镜(304)平行放置且空间相对距离为L3,并且使得脉冲激光光路(301)、光谱的收集方向、脉冲激光的击打方向一致;

所述脉冲激光光路(301),由脉冲激光器(3011)和扩束聚焦镜组(3012)构成;脉冲激光器(3011)发出具有一定发散角且细光斑的脉冲光束,脉冲光束先后经过扩束聚焦镜组(3012)的扩束镜和聚焦镜、反射镜(303)、二向色镜(304),最终作用在废金属样品(000)表面激发出光谱;

所述废金属样品(000)表面激发出光谱,先后经过二向色镜(304)、由收集镜组(3021)和光纤(3022)构成收集光路(302),最终被光谱分析仪(306)收集;

所述光谱分析仪(306)至少包含一个用以消除二级及以上衍射的影响滤波片、一个与光纤(3022)的数值孔径匹配的准直镜、分光光栅和探测器;光谱分析仪(306)用于是对选定波段的光谱信息进行采集和分析,并将废金属样品(000)的光谱上传至主控计算机(500)。

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