[发明专利]FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置有效
申请号: | 201611071738.2 | 申请日: | 2016-11-29 |
公开(公告)号: | CN106776250B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 罗军;罗宏伟;王小强;唐锐;蔡志刚;李军求 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
主分类号: | G06F11/34 | 分类号: | G06F11/34;G06F11/30 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 周清华 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 器件 单项 交流 参数 摸高 性能 评价 方法 装置 | ||
1.一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法,其特征在于,包括:
根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标;
获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与所述第一性能指标对应的第一摸高性能值及与所述第二性能指标对应的第二摸高性能值;
根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较,所述预设阈值用于表征两个备选FPGA器件的单项性能参数是否存在显著性能差异;
若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值大于预设阈值,则对所述两个备选FPGA器件根据所述第一摸高性能值的差值进行排序;
若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值,则根据两个备选FPGA器件的所述第二摸高性能值的大小对所述两个备选FPGA器件进行排序;
检测所有的备选FPGA器件是否排序完毕;
若是,则根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果;
根据评价结果从备选的FPGA器件中选型确定最优的FPGA器件。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一摸高性能指标为最高工作速度,所述第二摸高性能指标为在相同速度下的功耗值、最高工作速度与最高工作速度下的功耗值的比值、最高工作速度下的功耗值与最高工作速度的比值中的任意一种;或,所述第一摸高性能指标为标称工作速度下的功耗值;所述第二摸高性能指标为最高工作速度、最高工作速度与最高工作速度下的功耗值的比值、最高工作速度下的功耗值与最高工作速度的比值中的任意一种。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述交流参数包括:块随机存储器最大工作频率、先入先出队列最大工作频率、数字信号处理最大工作频率、数字时钟管理模块频率、全局时钟网络最大工作频率、I/O时钟网络最大工作频率、区域时钟网络最大工作频率、差分输出接口传输速率、存储器接口传输速率及网络型应用传输速率中的任意一种。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若检测所有的备选FPGA器件未排序完毕,则返回所述根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较的步骤。
5.一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价装置,其特征在于,包括:指标确定模块、数据获取模块、比较模块、排序模块、检测模块和输出模块;
所述指标确定模块,用于根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标;
所述数据获取模块,用于获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与所述第一性能指标对应的第一摸高性能值及与所述第二性能指标对应的第二摸高性能值;
所述比较模块,用于根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较,所述预设阈值用于表征两个备选FPGA器件的单项性能参数是否存在显著性能差异;
所述排序模块,用于在所述比较模块的比较结果为是时,对所述两个备选FPGA器件根据所述第一摸高性能值的差值进行排序;在所述比较模块的比较结果为否时,根据两个备选FPGA器件的所述第二摸高性能值的大小对所述两个备选FPGA器件进行排序;
所述检测模块,用于检测所有的备选FPGA器件是否排序完毕;
所述输出模块,用于在所述检测模块的检测结果为是时,根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果;
还包括选型确定模块,用于根据所述评价结果确定选型。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述第一摸高性能指标为最高工作速度,所述第二摸高性能指标为在相同速度下的功耗值、最高工作速度与最高工作速度下的功耗值的比值、最高工作速度下的功耗值与最高工作速度的比值中的任意一种;或,所述第一摸高性能指标为标称工作速度下的功耗值;所述第二摸高性能指标为最高工作速度、最高工作速度与最高工作速度下的功耗值的比值、最高工作速度下的功耗值与最高工作速度的比值中的任意一种。
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