[发明专利]FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置

说明书

本发明涉及一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价和装置，该方法包括：根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与第一性能指标对应的第一摸高性能值及与第二性能指标对应的第二摸高性能值；若两个第一摸高性能值的差值大于预设阈值，则对两个备选FPGA器件根据差值进行排序；若两个第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值，则根据第二摸高性能值的大小对两个备选FPGA器件进行排序；当所有的备选FPGA器件排序完毕时，根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果。该方法的适应用性好且得到的评价结果更全面。

技术领域

本发明涉及电子元器件领域，特别是涉及FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法和装置。

背景技术

FPGA(可编程逻辑阵列)由于其具有可编程、灵活易升级、费用低等特点近年来获得了快速发展,在FPGA器件的应用中，速度和功耗是用户重点关注的两大指标，用户在对FPGA器件进行选型的过程中期望获得满足设计指标的高性价比器件，因此FPGA器件的选型对用户而言极为重要。

FPGA器件包含了直流参数、交流参数及功能参数等，其中交流参数是用户比较关心并且能够从一定程度上反映FPGA器件综合性能的参数。用户可以依据不同FPGA器件的单项交流参数摸高性能对FPGA器件的选型进行合理的选择和判定，而如何对单项交流参数的摸高性能进行评价是FPGA器件选型评价中的一个难点。

传统的FPGA器件交流参数的摸高性能评价方法较单一，通常只根据速度或功耗进行性能评价。然而在实际应用中，FPGA器件的应用领域不同，不同的应用领域对FPGA性能的侧重点不同，传统的单一的FPGA器件交流参数的摸高性能评价方法不适用全部应用领域的FPGA器件的评价。

发明内容

基于此，有必要提供一种适用性强的FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法的装置。

一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价方法，包括：

根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；

获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与所述第一性能指标对应的第一摸高性能值及与所述第二性能指标对应的第二摸高性能值；

根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较；

若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值大于预设阈值，则对所述两个备选FPGA器件根据所述第一摸高性能值的差值进行排序；

若所述两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值小于或等于预设阈值，则根据两个备选FPGA器件的所述第二摸高性能值的大小对所述两个备选FPGA器件进行排序；

检测所有的备选FPGA器件是否排序完毕；

若是，则根据所有的备选FPGA器件的排序结果输出评价结果。

一种FPGA器件的单项交流参数摸高性能评价装置，包括：指标确定模块、数据获取模块、比较模块、排序模块、检测模块和输出模块；

所述指标确定模块，用于根据FPGA器件的应用领域确定单项交流参数的第一性能指标和第二性能指标；

所述数据获取模块，用于获取各备选FPGA器件的同一单项交流参数的与所述第一性能指标对应的第一摸高性能值及与所述第二性能指标对应的第二摸高性能值；

所述比较模块，用于根据其中两个备选FPGA器件的所述第一摸高性能值的差值与预设阈值进行比较；