[发明专利]具有过热控制器的测试设备布置

权利要求书

1.一种测试设备布置，包括过热控制器，该过热控制器配置为与待测单元连接，并被配置为测试待测单元的至少一个操作参数。

2.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述待测单元为模块化硅膨胀阀。

3.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述待测单元为模块化硅膨胀阀、微阀激活设备、微阀、电子流体阀、压力传感器和流量传感器中的一种。

4.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，还包括配置为测试待测单元至少一个操作参数的至少一个测试部件。

5.根据权利要求4所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述至少一个测试部件为万用表、热电阻、压力换能器、脉冲宽度调制驱动器、压力调节器、减压器中的一种或多种，每个测试部件被配置为测试待测单元的至少一个操作参数。

6.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，进一步包括与过热控制器和待测单元连接的计算机。

7.根据权利要求6所述的线路测试设备布置的末端，进一步包括与过热控制器和待测单元连接的数据采集装置。

8.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，过热控制器包括配置为执行万用表功能的处理器。

9.根据权利要求8所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述万用表功能包括检测和处理电阻与电压信息，并且控制来自电功率源的电输出，以及因此防止待测单元过压的能力。

10.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，过热控制器包括配置为执行脉冲宽度调制驱动器功能的处理器。

11.根据权利要求10所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述脉冲宽度调制驱动器功能包括提供脉冲宽度调制信号，以及控制输送至待测单元的功率量的能力。

12.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，过热控制器包括配置为执行压力换能器功能的处理器。

13.根据权利要求12所述的线路测试设备布置的末端，其中，所述压力换能器功能包括测量至待测单元的输入压力的能力。

14.根据权利要求1所述的线路测试设备布置的末端，其中，过热控制器包括配置为执行万用表功能、宽度脉冲调制驱动器功能，以及压力换能器功能中的至少一种功能的处理器。

15.一种测试设备布置，包括：

测试部件，其配置为与待测单元连接，并配置为测试该待测单元的至少一个操作参数；以及

过热控制器，其配置为与待测单元连接，并配置为测试待测单元的没有被测试部件测试的至少一个操作参数；

其中，过热控制器包括配置为执行万用表功能、脉冲宽度调制驱动器功能、和压力换能器功能中的至少一种功能的处理器。

16.一种测试电子设备的方法，包括：

将过热控制器连接到电子设备上，其中过热控制器配置为测试电子设备的至少一个操作参数；以及

利用该过热控制器测试电子设备的所述至少一个操作参数。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，该电子设备是模块化硅膨胀阀、微阀激活设备、微阀、电子流体阀、压力传感器和流量传感器中的一种。

18.根据权利要求16所述的方法，其中，过热控制器包括配置为执行万用表功能、脉冲宽度调制驱动器功能和压力换能器功能中的至少一种功能的处理器。

19.根据权利要求16所述的方法，进一步包括将过热控制器和在线路测试设备布置末端内的电子设备连接，所述线路测试设备末端具有至少一个测试部件，该至少一个测试部件配置为测试电子设备的一个或多个操作参数。

20.根据权利要求19所述的方法，其中，所述至少一个测试部件为万用表、热电阻、压力换能器、脉冲宽度调制驱动器、调压器以及减压器中的一个。