[发明专利]一种存储器的测试方法和装置

权利要求书

1.一种存储器的测试方法，其特征在于，包括：

根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令，分别对所述操作指令顺序编号，并将所述操作指令按所述编号顺序排列，构成测试序列；

根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令，对存储器进行测试；

如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试；

其中，如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试包括：

获取出错点对应的操作指令及所述出错点对应的操作指令在所述测试序列中的编号；

如果所述测试序列的长度大于第一阈值，则以所述出错点对应的操作指令编号为节点，从所述节点前第二阈值条数的操作指令对修复后的存储器开始重新测试，直到所述节点后第三阈值条数的操作指令测试结束，其中所述测试序列的长度为所述操作指令编号的最大值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令包括：

调节伪随机函数的输入参数，获得与所述输入参数一一对应的随机数，其中，所述输入参数的取值和所述随机数分别至少为一个；

根据所述至少一个随机数和存储器特性参数获得测试条件，所述随机数和所述测试条件一一对应，将所述测试条件进行组合形成操作指令。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述存储器特性参数包括下述至少一项：

预设命令中每条命令的编号及所述命令的总数、待测试存储器的最大读写地址、待测试存储器的最大操作地址；

所述测试条件包括下述至少一项：

对应所述待测试存储器的命令、待测试存储器的长度、待测试存储器操作地址。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述测试条件进行组合形成操作指令包括：

将所述随机数除以所述命令总数，得到的余数作为当前操作对应的待测试存储器的命令编号，根据所述编号确定当前操作对应的命令；和/或

将所述随机数除以所述待测试存储器的最大读写地址，得到的余数加一作为当前操作对应的待测试存储器的长度；和/或

获取所述待测试存储器的最大操作地址减去所述待测试存储器的长度的差值，将所述随机数除以所述差值，所得结果作为当前操作对应的待测试存储器的操作地址。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

如果测试次数达到预设的测试次数，和/或测试时间达到预设的测试时间，停止测试。

6.一种存储器的测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令，分别对所述操作指令顺序编号，并将所述操作指令按所述编号顺序排列，构成测试序列；

测试模块，用于根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令，对存储器进行测试；

处理模块，用于如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试；

其中，所述处理模块包括：

编号获取单元，用于获取出错点对应的操作指令及所述出错点对应的操作指令在所述测试序列中的编号；

操作单元，用于如果所述测试序列的长度大于第一阈值，则以所述出错点对应的操作指令编号为节点，从所述节点前第二阈值条数的操作指令对修复后的存储器开始重新测试，直到所述节点后第三阈值条数的操作指令测试结束，其中所述测试序列的长度为所述操作指令编号的最大值。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述获取模块包括：

随机数获取单元，用于调节伪随机函数的输入参数，获得与所述输入参数一一对应的随机数，其中，所述输入参数的取值和所述随机数分别至少为一个；

操作指令形成单元，用于根据所述至少一个随机数和存储器特性参数获得测试条件，所述随机数和所述测试条件一一对应，将所述测试条件进行组合形成操作指令。