[发明专利]一种存储器的测试方法和装置

说明书

本发明实施例公开了一种存储器的测试方法和装置。所述方法包括：根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令，分别对所述操作指令顺序编号，并将所述操作指令按所述编号顺序排列，构成测试序列；根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令，对存储器进行测试；如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试。实现了对存储器程序和/或数据的随机测试，保证了测试的全面性，提高了测试的准确性和效率。

技术领域

本发明实施例涉及数字测试领域，尤其涉及一种存储器的测试方法和装置。

背景技术

存储器的主要功能是存储程序和各种数据，并能在计算机的运行过程中高速、自动地完成程序或数据的存取。在存储器的使用之前，需要对其进行功能测试。现有技术中对存储器的测试通常是开发人员确定好了测试序列中各操作指令类型和测试顺序，对存储器中特定长度的程序和数据、特定的访问区域进行测试。

在测试过程中，待检测程序数据庞大，出现的问题也是随机的。在有效性的验证过程中，特定的测试命令，包括特定的读写长度、特定的操作地址、特定的访问区域等，会导致测试过程比较单一，不能实现全面的测试。当测试中出现问题时，需要复现测试命令对修复后的程序进行测试，现有技术中只能通过特定的测试序列中的操作指令去测试，造成了测试的不全面和操作过程的繁琐。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种存储器的测试方法和装置，实现了对存储器程序和/或数据的随机测试，保证了测试的全面性，提高了测试的准确性和效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种存储器的测试方法，该方法包括：

根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令，分别对所述操作指令顺序编号，并将所述操作指令按所述编号顺序排列，构成测试序列；

根据所述编号顺序执行所述测试序列中的操作指令，对存储器进行测试；

如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试。

进一步的，根据预设的伪随机函数获取至少一条操作指令包括：

调节伪随机函数的输入参数，获得与所述输入参数一一对应的随机数，其中，所述输入参数的取值和所述随机数分别至少为一个；

根据所述至少一个随机数和存储器特性参数获得测试条件，所述随机数和所述测试条件一一对应，将所述测试条件进行组合形成操作指令。

进一步的，所述存储器特性参数包括下述至少一项：

预设命令中每条命令的编号及所述命令的总数、待测试存储器的最大读写地址、待测试存储器的最大操作地址；

所述测试条件包括下述至少一项：

对应所述待测试存储器的命令、待测试存储器的长度、待测试存储器操作地址。

进一步的，将所述测试条件进行组合形成操作指令包括：

将所述随机数除以所述命令总数，得到的余数作为当前操作对应的待测试存储器的命令编号，根据所述编号确定当前操作对应的命令；和/或

将所述随机数除以所述待测试存储器的最大读写地址，得到的余数加一作为当前操作对应的待测试存储器的长度；和/或

获取所述待测试存储器的最大操作地址减去所述待测试存储器的长度的差值，将所述随机数除以所述差值，所得结果作为当前操作对应的待测试存储器的操作地址。

进一步的，如果检测到所述存储器出现错误，则利用所述测试序列对修复后的存储器进行重新测试包括：

获取出错点对应的操作指令及所述出错点对应的操作指令在所述测试序列中的编号；