[发明专利]集成电路的综合性能评价方法和装置

说明书

本发明涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置，该方法包括：获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于测量值得到基本项分值和附加项分值；若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；基于最终排序结果输出综合性能的评价结果。基于阈值的评价方法包括以下步骤：根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。通过综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。

技术领域

本发明涉及集成电路领域，特别是涉及一种集成电路的综合性能评价方法和装置。

背景技术

可编程逻辑阵列(FPGA)由于其具有可编程、灵活易升级、费用低等特点广泛应用于航空航天、通信、雷达、音视频处理等领域。

在FPGA器件的应用中，为了选出最优的FPGA器件，用户和检测机构通常需要对不同厂家的FPGA器件进行对比评价。然而，如何全面对FPGA器件进行合理的评价以便客观的评估不同厂商之间FPGA器件的基本性能和附加性能，成为FPGA器件产业化发展中关注的一个焦点。

发明内容

基于此，有必要提供一种全面并实用的集成电路的性能评价方法和装置。

一种集成电路的综合性能评价方法，包括：

获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；

若各待测集成电路的基本项分值都小于参考值，则采用基于阈值的评价方法对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；

基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；

所述基于阈值的评价方法包括以下步骤：

根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；

若预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值，则基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。

一种集成电路的综合性能评价装置，包括：参数获取模块，基于阈值的评价模块、排序模块和评价模块；

所述参数获取模块，用于获取N个待测集成电路的相关参数的测量值，并基于所述测量值得到基本项分值和附加项分值；

所述排序模块，用于在各待测集成电路的基本项分值都小于参考值时，调用所述基于阈值的评价模块对所述各待测集成电路进行排序得到最终排序结果；

所述评价模块，用于基于所述最终排序结果输出综合性能的评价结果；

所述基于阈值的评价模块包括预排序模块和调整模块；

所述预排序模块，用于根据各待测集成电路的基本项分值进行预排序；

所述调整模块，用于在预排序后的任意相邻两个待测集成电路的基本项分值的差值小于预设阈值时，基于两个待测集成电路的基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整得到排序结果。

上述集成电路的综合性能评价方法，在各待测集成电路的基本项分值都小于参考值时，采用基于阈值的评价方法对各待测集成电路进行排序，具体的，先将各集成电路根据基本项分值进行排序，在相邻的两个集成电路的差值小于预设阈值时，结合基本项分值和附加项分值对预排序结果进行调整，综合考虑了集成电路的基本项和附加项的影响，使集成电路的评价更为实用、合理、全面和客观。

附图说明

图1为一种实施例的集成电路的性能评价方法的流程图；