[发明专利]寄存器位带的测试方法及系统

权利要求书

1.一种寄存器位带的测试系统，其特征在于，包括：主控制器、地址重映射单元、测试激励生成单元、寄存器监控单元、测试结果校验单元以及存储器，其中：

所述主控制器，与所述存储器耦接，适于获知当前待测试外围设备，根据所述当前待测试外围设备，读取对应的屏蔽码文件，所述屏蔽码文件中的屏蔽码适于标识所述当前待测试外围设备中进行位带测试的寄存器；初始化所述存储器，向所述存储器中写入测试参数；以及，适于从所述存储器中读取校验结果；其中，所述测试参数与所述当前待测试外围设备相关，包括：所述屏蔽码、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址、所述当前待测试外围设备中寄存器的地址范围以及所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址；

所述地址重映射单元，与所述主控制器耦接，适于根据所述当前待测试外围设备，计算所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址，并发送至所述主控制器；

所述测试激励生成单元，与所述存储器耦接，适于从所述存储器中读取所述测试参数，根据所述屏蔽码、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址以及所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址，获取所述当前待测试外围设备中所有存在位带测试需求的寄存器的地址及其对应的位带重映射区地址，生成相应的测试激励并进行测试；

所述寄存器监控单元，与所述测试结果校验单元耦接，适于实时读取当前进行测试的寄存器对应的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值，并发送至所述测试结果校验单元；所述测试结果校验单元，与所述寄存器监控单元耦接，适于对所述寄存器监控单元获取到的所述当前进行测试的寄存器对应的位带重映射区地址中的值、所述当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及所述期望值进行校验，并将得到的校验结果发送至所述存储器。

2.如权利要求1所述的寄存器位带的测试系统，其特征在于，还包括：测试目标选择单元，与所述主控制器耦接，适于从存在位带测试需求的外围设备中，选取所述当前待测试外围设备，并告知所述主控制器。

3.如权利要求2所述的寄存器位带的测试系统，其特征在于，所述测试目标选择单元，适于采用宏定义的方法，从所述存在位带测试需求的外围设备中，选取所述当前待测试外围设备。

4.如权利要求3所述的寄存器位带的测试系统，其特征在于，所述测试目标选择单元，还适于从所述存在位带测试需求的外围设备中，选取所述当前待测试外围设备后，获取所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址以及所述当前待测试外围设备中寄存器的地址范围。

5.如权利要求1所述的寄存器位带的测试系统，其特征在于，所述测试激励生成单元，包括：读取子单元、遍历子单元、初始化子单元以及写入子单元，其中：

所述读取子单元，与所述存储器耦接，适于从所述存储器中，读取所述屏蔽码、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址、所述当前待测试外围设备中寄存器的地址范围、所述当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址；

所述遍历子单元，与所述读取子单元耦接，适于根据所述当前待测试外围设备中寄存器的地址范围，采用所述屏蔽码遍历所述当前待测试外围设备中的所有寄存器，获取所述当前待测试外围设备中所有存在位带测试需求的寄存器的地址及其对应的位带重映射区的地址；

所述初始化子单元，适于对所述所有存在位带测试需求的寄存器进行初始化处理；

所述写入子单元，适于以位带访问的方式，向所述所有存在位带测试需求的寄存器对应的位带重映射区地址写入测试值，所述测试值与所述期望值相同，且所述测试值与所述初始化处理对应的初始值不等。

6.如权利要求5所述的寄存器位带的测试系统，其特征在于，所述主控制器选取不同的待测试外围设备对应的屏蔽码文件，所述不同的待测试外围设备对应的屏蔽码文件不同且相互独立设置。