[发明专利]寄存器位带的测试方法及系统

说明书

一种寄存器位带的测试方法及系统，所述测试方法包括：选取当前待测试外围设备以及对应的屏蔽码文件；计算当前待测试外围设备中寄存器的首地址对应的位带重映射区首地址；向存储器写入测试参数；从存储器中读取测试参数，根据屏蔽码文件，获取当前待测试外围设备中所有存在位带测试需求的寄存器，生成相应的测试激励并进行测试；实时读取当前进行测试的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值；对读取到的当前进行测试的位带重映射区地址中的值、当前进行测试的位带重映射区地址对应的寄存器中的值以及期望值进行校验，并得到校验结果。上述方案能够提高寄存器位带测试以及寄存器测试的效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种寄存器位带的测试方法及系统。

背景技术

寄存器是芯片中最基本的存储单元，在对芯片进行测试时，对寄存器的测试是至关重要的环节，寄存器功能是否正常会直接影响到芯片设计的成败。

通常情况下，芯片内部的外围设备中存在多种寄存器，不同种类的寄存器的功能和属性又可能各不相同。针对于同一块芯片，其中又可能存在多种不同的外围设备，不同外围设备中的寄存器的功能和属性存在着更大的差异。

传统的对寄存器进行测试，通常是对寄存器自身地址进行访问和测试。在对寄存器进行测试时，同一个寄存器的属性可能会先标注很多种类型，包括可读可写、只读、只写、写1清零、写0清零等，之后，再分别对各种属性类型分别进行随机生成测试激励，以测试寄存器的属性是否正确。

寄存器的位带功能，是一种近年来广泛应用的基于32位中央处理器(CenterProcessing Unit，CPU)的微控制单元(Micro Controller Unit，MCU)或片上系统(Systemon Chip，SoC)芯片的新型访问模式，通过地址重映射的方式，将寄存器中的每一位进行重新定义，将对寄存器的每一位的访问都完全隔离出来。在对寄存器进行测试时，可以对寄存器的位带功能进行映射。

为了对寄存器进行更加有效、全面的测试，现有技术中，采用传统的寄存器测试方法对寄存器的位带功能进行测试，需要对所有寄存器的位带功能都进行测试，测试效率较低。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何对寄存器位带进行测试，提高测试效率。