[发明专利]一种闪存的坏块管理方法、装置和一种存储装置有效

专利信息
申请号: 201611143916.8 申请日: 2016-12-12
公开(公告)号: CN106601303B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 黄志铭;庞荣 申请(专利权)人: 建荣半导体(深圳)有限公司;建荣集成电路科技(珠海)有限公司;珠海煌荣集成电路科技有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G06F11/07
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 彭海民
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 闪存 管理 方法 装置 存储
【权利要求书】:

1.一种闪存的坏块管理方法,其特征在于,所述方法包括:

从块队列中取出待写块;

检查所述待写块是否被标识了再生流程旗标;

若所述待写块被标识了再生流程旗标,则将所述被标识了再生流程旗标的待写块执行块擦除操作;

对所述执行了块擦除操作的待写块进行写预处理操作,以确定所述被标识了再生流程旗标的待写块可用空间是否满足利用率要求;

若所述被标识了再生流程旗标的待写块满足利用率要求,则将所述满足利用率要求的待写块纳入写数据流程执行写操作。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述执行了块擦除操作的待写块进行写预处理操作,以确定所述被标识了再生流程旗标的待写块可用空间是否满足利用率要求,包括:

检测所述被标识了再生流程旗标的待写块的每一扇区;

若检测到所述被标识了再生流程旗标的待写块存在一个坏扇区,则将坏扇区计数器的值累加1,并再次检测下一扇区;

在重复上述过程后,若所述坏扇区计数器的值大于预设阈值,则将所述被标识了再生流程旗标的待写块标识为坏块,否则,确定所述被标识了再生流程旗标的待写块可用空间满足利用率要求。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述从块队列中取出待写块之前,所述方法还包括:

获取块的状态;

若所述块的状态为不佳,则将所述状态不佳的块标识再生流程旗标;

将所述状态不佳且标识了再生流程旗标的块存入所述块队列。

4.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,若所述被标识了再生流程旗标的待写块不满足利用率要求,则所述方法还包括:

将所述被标识了再生流程旗标且不满足利用率要求的待写块标记为坏块。

5.一种闪存的坏块管理装置,其特征在于,所述装置包括:

取块模块,用于从块队列中取出待写块;

旗标检查模块,用于检查所述待写块是否被标识了再生流程旗标;

判断模块,用于若所述待写块被标识了再生流程旗标,则将所述被标识了再生流程旗标的待写块执行块擦除操作;

预处理模块,用于对所述执行了块擦除操作的待写块进行写预处理操作,以确定所述被标识了再生流程旗标的待写块可用空间是否满足利用率要求;

写模块,用于若所述判断模块的判断结果为所述被标识了再生流程旗标的待写块满足利用率要求,则将所述满足利用率要求的待写块纳入写数据流程执行写操作。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述预处理模块包括:

检测单元,用于检测所述被标识了再生流程旗标的待写块的每一扇区;

累加单元,用于若所述检测单元检测到所述被标识了再生流程旗标的待写块存在一个坏扇区,则将坏扇区计数器的值累加1,并使所述检测单元再次检测下一扇区;

确定单元,用于所述检测单元和累加单元重复上述过程后,若所述坏扇区计数器的值大于预设阈值,则将所述被标识了再生流程旗标的待写块标识为坏块,否则,确定所述被标识了再生流程旗标的待写块可用空间满足利用率要求。

7.如权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

状态获取模块,用于所述取块模块从块队列中取出待写块之前,获取块的状态;

旗标标识模块,用于若所述块的状态为不佳,则将所述状态不佳的块标识再生流程旗标;

入队模块,用于将所述状态不佳且标识了再生流程旗标的块存入所述块队列。

8.如权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:

坏块标记模块,用于若所述被标识了再生流程旗标的待写块不满足利用率要求,则将所述被标识了再生流程旗标且不满足利用率要求的待写块标记为坏块。

9.一种存储系统,其特征在于,所述存储系统包括权利要求5至8任意一项所述的闪存的坏块管理装置。

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