[发明专利]一种Al掺杂氧化物、制备方法及QLED有效

专利信息
申请号: 201611160706.X 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106784397B 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 王宇;曹蔚然;杨一行;钱磊 申请(专利权)人: TCL集团股份有限公司
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56;H01L51/50
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 al 掺杂 氧化物 制备 方法 qled
【权利要求书】:

1.一种Al掺杂氧化物的制备方法,其特征在于,包括步骤:

A、在硫化物中加入铝源,然后加水混合得到混合液;

B、将混合液超声一段时间;

C、将超声后的混合液在150-200℃下反应3-24h,待反应液降到室温后,依次过滤和清洗得到Al掺杂氧化物;

所述硫化物为二硫化钼、二硫化钨或者二硫化钒;

所述铝源为硫化铝。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤B中,超声处理的时间为5-30min。

3.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤B中,超声处理的功率为100-600W。

4.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述硫化铝占硫化铝与硫化物总量的质量百分比为40-55%。

5.一种Al掺杂氧化物,其特征在于,采用如权利要求1所述的制备方法制成。

6.一种QLED,其特征在于,所述QLED的电子传输层的材料为如权利要求5所述的Al掺杂氧化物。

7.根据权利要求6所述的QLED,其特征在于,所述QLED为正型器件或反型器件;所述正型器件依次包括:含有底电极的衬底、空穴注入层、空穴传输层、量子点发光层、电子传输层、顶电极;所述反型器件依次包括:含有底电极的衬底、电子传输层、量子点发光层、空穴传输层、顶电极。

8.根据权利要求7所述的QLED,其特征在于,所述空穴注入层和/或空穴传输层的材料为如权利要求5所述的Al掺杂氧化物。

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