[发明专利]基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法有效

专利信息
申请号: 201611167202.0 申请日: 2016-12-16
公开(公告)号: CN106707484B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 凌进中;隋国荣;张大伟;贾星伟;严锦雯;高秀敏;沈奶连;庄松林 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G02B21/06 分类号: G02B21/06
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 散射光 样品表面 超分辨 成像 光学显微成像 空间分辨率 近场 近场扫描光学显微镜 暗场光学显微镜 暗场显微镜 空间超分辨 微米颗粒 衍射极限 照明光源 逐点扫描 显微镜 明场 扫描 图像
【权利要求书】:

1.一种基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)在现有的暗场光学显微镜的基础上增加三维移动设备,三维移动设备控制微米级的微粒移动;

2)将待测样品置于显微物镜的焦平面上;

3)将微粒移动接近待测样品表面,距离待测样品不超过1微米;

4)入射光从侧面入射,微粒对入射光散射,使得微粒附近的区域被散射光照亮,在微粒的散射光照明下,暗场光学显微镜对微粒周围被散射光照亮的待测样品表面区域进行成像,完成待测样品表面部分图像采集;

5)利用三维移动设备控制微粒在样品表面逐步按次序移动,并控制微粒距离待测样品表面的间隔不超过1微米,每移动一步,用暗场光学显微镜采集一次图像,直至完成待测样品表面的图像采集;

6)将所有采集图像按次序拼接,实现待测样品表面超分辨图像。

2.根据权利要求1所述基于微粒散射光近场照明的超分辨光学显微成像方法,其特征在于,所述微粒大小为1至50微米,用来散射显微镜的入射光,散射光作为显微镜的照明光源,散射光中高频分量经过样品表面的调制后,将有倏逝波转化成传播波,再由显微物镜收集,成像与像平面上。

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