[发明专利]一种工件真空度自动检测方法有效
申请号: | 201611174678.7 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN106768610B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 戴琦琦;林雪英;宋延魁;何俊斌 | 申请(专利权)人: | 广州市真量纯科技有限公司 |
主分类号: | G01L21/00 | 分类号: | G01L21/00 |
代理公司: | 广州市南锋专利事务所有限公司 44228 | 代理人: | 张小黎 |
地址: | 510670 广东省广州市高新技术产业开发区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 被测工件 自动检测 抽真空处理 工件真空 曲线斜率 真空性能 预设 真空度检测 准确度 合格工件 检测结果 人工成本 人工干预 人工判断 真空泵组 特征表 真空泵 相等 存储 引入 | ||
1.一种工件真空度自动检测方法,其特征在于,包括:
控制真空泵或真空泵组对被测工件进行抽真空处理;
实时获取所述被测工件的真空度值,并同步生成第一真空度曲线,计算所述第一真空度曲线的斜率,记为第一曲线斜率;
当所述第一曲线斜率不小于预设斜率值时,获取当前抽真空处理时长,记为第一时间;
获取预设真空性能特征表中存储的至少一个时间特征值,将所述第一时间与所述时间特征值进行比较;
当所述第一时间与任意一个所述时间特征值相等时;
判断所述被测工件为合格工件。
2.如权利要求1所述的工件真空度自动检测方法,其特征在于,所述预设真空性能特征表中存储有N个所述时间特征值,N为大于0的整数;且每个时间特征值匹配有唯一的真空性能特征数据组,所述每组真空性能特征数据组中还分别匹配有对应的保压阀值,记第N组真空性能特征数据组的时间特征为第N时间特征,记第N组真空性能特征数据组的保压阀值为第N保压阀值;所述当所述第一时间与其中一个所述时间特征值相等时,具体还包括:
当所述第一时间与第N时间特征值相等时,获取第N保压阀值;
控制真空泵或真空泵组停止对所述被测工件的抽真空处理,并等待预设保压时长后,获取此时所述被测工件的真空度值,记为第二真空度值;
当所述第二真空度值不大于所述第N保压阀值时;
判断所述被测工件为合格工件。
3.如权利要求2所述的工件真空度自动检测方法,其特征在于,所述每组真空性能特征数据组中还分别匹配有对应的斜率值及标准阀值;记第N组所述真空性能特征数据组中的所述斜率值为第N斜率值,记第N组所述真空性能特征数据组中的所述标准阀值为第N标准阀值;所述当所述第二真空度值不大于所述第N保压阀值时,还包括:
当所述第二真空度值不大于所述第N保压阀值时,获取第N斜率值及第N标准阀值;
控制真空泵或真空泵组重新对所述被测工件进行抽真空处理;
根据所获取的真空度值生成第三真空度曲线,计算所述第三真空度曲线的最小斜率,记为第三曲线斜率;
当所述第三曲线斜率等于所述第N斜率值且所获取的真空度值不大于所述第N标准阀值时,判断所述被测工件为合格工件。
4.如权利要求2所述的工件真空度自动检测方法,其特征在于,所述获取预设真空性能特征表中存储的至少一个时间特征值,将所述第一时间与所述时间特征值进行比较,之后还包括:
当所述第一时间与所述N个时间特征值均不相等,且所述第一时间不大于预设最长处理时长时,进入学习模式,获取预设第三流程时长;
将所述第一时间写入所述预设真空性能特征表中,记为第N+1时间特征值,且记与所述第N+1时间特征值匹配的真空性能特征数据组为第N+1组真空性能特征数据组;
控制真空泵或真空泵组停止对所述被测工件的抽真空处理,并等待预设保压时长后,获取此时所述被测工件的真空度值,记为第二真空度值;
将所述第二真空度值写入所述第N+1组真空性能特征数据组中,记为第N+1保压阀值;
控制真空泵或真空泵组重新对所述被测工件进行抽真空处理;
获取所述被测工件的真空度值,并根据所获取的真空度值生成第三真空度曲线,计算所述第三真空度曲线的最小斜率,记为第三曲线斜率;
当抽真空处理的时间等于所述预设第三流程时长时,获取此时被测工件的真空度值,记为第三真空度值;
将所述三曲线斜率写入所述第N+1组真空性能特征数据组中,记为第N+1斜率值;将所述第三真空度值写入所述第N+1组真空性能特征数据组中,记为第N+1标准阀值;
结束学习模式。
5.如权利要求1-4中任一所述的工件真空度自动检测方法,其特征在于,所述控制真空泵或真空泵组对被测工件进行抽真空处理,之前还包括:
判断被测工件是否到达工位;
当被测工件到达工位时,开始检测。
6.如权利要求1-4中任一所述的工件真空度自动检测方法,其特征在于,所述判断所述被测工件为合格工件,之后还包括:
获取与所述被测工件的第一时间相等的所述时间特征值所匹配的真空性能特征数据组的编号;
将所获取的编号相同的所述被测工件放置在同一存储区域中。
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