[发明专利]一种NVM测试读取加速方法及电路在审

专利信息
申请号: 201611189047.2 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN106653096A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 王辉 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 nvm 测试 读取 加速 方法 电路
【权利要求书】:

1.一种NVM测试读取加速电路,其特征在于,由地址生成逻辑、比较数据生成逻辑、数据比较逻辑、NVM存储器、用于装载信息的数据寄存器(包括片选寄存器、起始地址寄存器、结束地址寄存器、Pattern类型寄存器、原始数据寄存器和Pattern数据参考寄存器)、以及其它相关的组合逻辑构成,其中:所述的地址生成逻辑读取片选寄存器、起始地址寄存器、结束地址寄存器和Pattern类型寄存器的值,进行NVM地址的控制,控制每次读出数据的地址,并将此地址写回起始地址寄存器中;地址生成逻辑接收比较逻辑输出的fail信号,若fail信号为1,则会将NVM地址停止变化;地址生成逻辑判断其输出给NVM的地址和结束地址寄存器的值相等时,则会将finish信号输出为1,表示测试结束;通过硬件实现内部并行数据读出比较以提高速度。

2.一种NVM测试读取加速方法,应用于权利要求1所述的电路,其特征在于,在NVM存储器读取加速测试时,通过软件启动,硬件自动执行NVM存储器的数据读出和比对的工作,通过并行数据比较以达到加速的目的。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,由软件置位所述用于装载信息的数据寄存器,硬件自动完成NVM存储器测试的“地址、期望数据产生=>数据读取=>数据比较”过程,根据比较的结果来判断是否继续执行测试,并将结果反馈给软件。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:所述电路对NVM存储数据进行最大位宽的同时比较。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:所述电路可以根据Pattern类型寄存器的值,针对不同类型的Pattern进行测试。

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:通过软件配置用于装载信息的数据寄存器值,电路可以自动计算每个地址的比对期望值。

7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:数据比较结果发生不相等时,电路保持当前状态,并等待软件命令进行处;数据比较结果相等时,电路自动完成测试并等待接收软件下一次的比较指令。

8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:数据比较结果发生不相等时,软件可以通过读取寄存器中存储数据和NVM中数据的方式进行分析和调试。

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