[发明专利]一种长波抑制的LED荧光成像仪在审

专利信息
申请号: 201611194626.6 申请日: 2016-12-22
公开(公告)号: CN108226104A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 赵雅彬;郭威;杨华 申请(专利权)人: 中国人民公安大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100038 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
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【权利要求书】:

1.一种长波抑制的LED荧光光谱成像仪,所述成像仪包括:一个光源长波特征被抑制的蓝紫光LED光源系统(1),一个能够对荧光波段进行响应的成像或非成像探测器(2),一个对光源系统和探测器进行同步的同步控制器和驱动器(6),以及控制同步控制器和驱动器并对数据进行分析的控制分析器(7);所述光源系统的强度可调控和切换。

2.根据权利要求1,所述光源系统(1)还包括用于滤波的长波抑制的光学元件,使得从光源(1)发出的光谱中长波荧光波段的强度小于被测样品的荧光发光强度。。

3.根据权利要求1,所述光源系统(1)还包括光学透镜、反射镜、光学膜,使得照射到被测样品(3)上的光斑均匀度良好,光强适当,并可通过控制器和驱动器(6)控制光源系统(1)的发光强度。

4.根据权利要求1,所述多波段激发荧光成像仪,其特征是所述光源系统(1)包含多个LED光源,所述LED光源发射紫外至红外的不同波段的光,其发光强度大于被测样品(3)所需要的最低发光强度。

5.根据权利要求1,所述探测器(2)通过控制器和驱动器(6)控制其探测灵敏度。

6.根据权利要求1,所述探测器(2)包括多种滤光和/或滤色片以增强观测能力

7.根据权利要求1,所述LED光源系统(1)和探测器(2)集成在一个装置中。

8.根据权利要求1,所述控制分析器(7)对不同照明条件下的探测器采集图像或信息并进行比对,以获得现场痕迹信息。

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