[发明专利]一种长波抑制的LED荧光成像仪

说明书

一种刑事侦察过程中，发现并提取痕迹物证的长波抑制的LED荧光光谱成像仪，属于公安刑侦用具领域。该成像仪的特征是：包括一个激发光波段与被激发波段的发光强度之比大于被测样品产生可观测荧光所需要的最低比例的光源系统，一个能够对不同波段进行响应的成像或非成像探测器，一个可对光源系统和探测器进行同步的同步控制器及驱动器，以及控制同步控制器和驱动器并可对数据进行分析的控制分析器。该成像仪可实现对微弱荧光的有效激发和观测，在物证采集领域具有很好的应用前景。

技术领域

本发明涉及一种刑事现场及发光和图像采集等领域，特别是利用现场痕迹的荧光特征进行有效取证的刑侦现场专用设备结构。

背景技术

目前在刑侦现场工作中，需要对各种痕迹进行现场检查与取证。发现和提取痕迹证据时所使用的物理和化学方法大多会对物证本身造成污染或破坏，近年来利用各种光学手段提取痕迹物证的方式也逐步应用。利用特定的光源系统设备能够有效激发犯罪现场遗留指纹、足迹、血迹以及纤维等微量物证的固有荧光，使不同痕迹物证在特定波长光照射下发生响应，便于现场痕迹物证的发现与搜索，极大程度提高了现场潜在痕迹物证的显现能力和采集率。利用光学检验灵敏度高、不损害检材的特点，目前刑事技术光源系统设备在物证检验鉴定中的用途已经从指纹检验、文件检验、纺织品检验扩展到体液检验、弹药残留物检验等领域。良好的物证照相光源系统对于解决潜在及疑难客体上遗留痕迹物证的提取和保存也具有非常重要的价值，从可见光的配光照相、分色照相、偏振光照相，到特殊照相的红外反射、紫外反射、红外荧光、紫外荧光照相，都可以利用不同的光源系统得到良好的检验拍照效果。

受限于光源系统特性以及物证提取方式的限制，目前利用光学方法提取物证的能力和效率仍然不够高，而实际工作中对公安机关刑事技术人员现场勘查规范化和科学性的要求正在变得更加严格，高质量的现场勘查标准及检验设备的更新对光源系统的性能也提出了更高的要求，因此现有刑事技术光源系统设备存在的准确性低、体积大、实用性不强等问题也突显出来，成为制约刑事技术发展的重要问题。目前出现了以发光二极管(简称LED)为光源的荧光成像设备，具有效率高、亮度高，光色单一，成本低廉，开关速度快、可靠性高、寿命长、全固态不易破碎等特点，其光源系统能量利用率最高可超过50％，只需针对不同条件选择不同波长的LED光源系统任意组合，光谱可覆盖红、黄、绿、蓝、紫和紫外范围，可实现光强、光谱、周期可调，在物证采集领域具有很大的发展潜力。但是在实际使用过程中，对于利用被测材料本征荧光等微弱荧光材料的发现仍然存在一定得困难，主要在于LED器件在长波波段，也即被测材料本征荧光波段仍有一定的光强，在某些情况下掩盖了材料发出的荧光而带来物证发现困难。通过增加长波抑制的光学元件有效降低LED光源的长波成分，有助更好的发现各类物证发出的微弱荧光。

发明内容

本发明提出一种多波段激发荧光成像仪，其包括：

一个光源长波特征被抑制的蓝紫光LED光源系统，一个能够对荧光波段进行响应的成像或非成像探测器，一个对光源系统和探测器进行同步的同步控制器和驱动器，以及控制同步控制器和驱动器并对数据进行分析的控制分析器。

所述长波抑制的LED荧光光谱成像仪，可包含多个不同波段的LED光源系统，可以通过电路控制发射紫外至红外的不同波段的单色光，每种光源的长波成分被有效降低，其激发光波段与被激发波段的发光强度之比大于被测样品产生可观测荧光所需要的最低比例；所述光源系统的波段和强度可调控和切换。

所述可发射多波段LED的光源系统，其光源系统波段包括紫外、可见光、红外等多种LED 发光波段，光源系统中包括光学透镜、反射镜、光学膜等元器件，使得照射到被测样品上的光斑均匀度良好，光强适当，并可通过调节驱动器和控制器的输出控制其光谱选择、照射光强度等。

所述探测器，可以采用成像方式也可以采用非成像方式，并可通过驱动器和控制器控制其采集信息的时间和周期等参数。

所述探测器，还可以包括多种滤光、滤色片以增强观测能力，并可手动或者通过驱动器和控制器控制其滤光、滤色片的工作位置。