[发明专利]检查设备和对集装箱进行检查的方法有效
申请号: | 201611221485.2 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN108240997B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 赵自然;顾建平;易茜;刘必成 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/044 | 分类号: | G01N23/044 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 设备 集装箱 进行 方法 | ||
1.一种对集装箱进行检查的方法,包括步骤:
利用包括稀疏面阵探测器的扫描设备对被检查集装箱进行透射扫描,得到扫描数据,所述稀疏面阵探测器包括在水平方向上随机分布的探测器阵列;
在深度方向的特定深度位置进行数字聚焦;
滤除散焦的像素值,得到该特定深度位置处的切片图像;
判断该切片图像中是否包含危险品或者可疑物品。
2.如权利要求1所述的方法,其中根据下式进行数字聚焦:
∆x=(L-Z)/L∙∆D
其中L为射线源到探测器平面的水平距离,∆D表示所述探测器阵列中的探测器单元相对于所述探测器阵列的中心线的偏移量,∆x表示同一投影射线深度为Z的物体点的成像位置偏移量。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述探测器阵列通过接收穿过所述被检测集装箱的射线进行透射扫描;所述稀疏面阵探测器包括:
第一组稀疏面阵探测单元,探测所述射线中第一能量范围的那部分射线;
第二组稀疏面阵探测单元,探测所述射线中第二能量范围的那部分射线,其中第二能量范围高于第一能量范围。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述稀疏面阵探测器的每个探测单元包括低能探测部分、滤波片和高能探测部分。
5.如权利要求1所述的方法,其中针对不同的深度位置分别进行数字聚焦并滤除散焦的像素值,得到各位置的切片图像,以及通过动画的方式连续播放这些切片图像。
6.如权利要求1所述的方法,包括步骤:
通过输入装置连续调节深度位置;
其中随着调节步骤以动画的方式播放不同深度值下的切片图像。
7.如权利要求1所述的方法,还包括步骤:
基于稀疏面阵探测器中各个探测单元相对于中心线的偏移从探测的数据创建被检查物体的二维透射图像。
8.如权利要求7所述的方法,包括步骤:
结合所述二维透射图像和切片图像对应的深度值确定危险品或者可疑物品在集装箱中的位置。
9.一种检查设备,包括:
扫描设备,包括射线源和稀疏面阵探测器,对被检查集装箱进行透射扫描,得到扫描数据,所述稀疏面阵探测器包括在水平方向上随机分布的探测器阵列;
数据处理设备,在深度方向的特定深度位置进行数字聚焦,滤除散焦的像素值,得到该特定深度位置处的切片图像,并且判断该切片图像中是否包含危险品或者可疑物品。
10.如权利要求9所述的检查设备,其中,所述探测器阵列通过接收穿过所述被检测集装箱的射线进行透射扫描;所述稀疏面阵探测器包括:
第一组稀疏面阵探测单元,探测所述射线中第一能量范围的那部分射线;
第二组稀疏面阵探测单元,探测所述射线中第二能量范围的那部分射线,其中第二能量范围高于第一能量范围。
11.如权利要求9所述的检查设备,其中所述稀疏面阵探测器的每个探测单元包括低能探测部分、滤波片和高能探测部分。
12.如权利要求9所述的检查设备,其中所述数据处理设备根据下式进行数字聚焦:
∆x=(L-Z)/L∙∆D
其中L为射线源到探测器平面的水平距离,∆D表示所述探测器阵列中的探测器单元相对于所述探测器阵列的中心线的偏移量,∆x表示同一投影射线深度为Z的物体点的成像位置偏移量。
13.如权利要求9所述的检查设备,所述数据处理设备还包括:
输入装置,用于连续调节深度位置;
显示装置,随着调节过程以动画的方式播放不同深度值下的切片图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司,未经同方威视技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611221485.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片失效分析方法和装置
- 下一篇:计算机断层扫描