[发明专利]检查设备和对集装箱进行检查的方法

说明书

公开了一种检查设备和对集装箱进行检查的方法。利用包括稀疏面阵探测器的扫描设备对被检查集装箱进行透射扫描，得到扫描数据。在深度方向的特定深度位置进行数字聚焦。滤除散焦的像素值，得到该特定深度位置处的切片图像。判断该切片图像中是否包含危险品或者可疑物品。

技术领域

本公开涉及对辐射检查技术，具体涉及一种检查设备和对集装箱进行检查的方法。

背景技术

X射线透射技术常用于机场、海关等地的集装箱货物检查。X射线透射技术利用直线探测器阵列来获得集装箱的二维透射图像。例如X射线经准直形成扇形射线束，透过被检物体被探测。在物体静止时，探测器接收到的只是物体在射线层面上的一个一维投影。当物体沿垂直于射线面的方向运动时，物体各部分依次穿过射线束，探测器便以线扫描的方式得到了整个物体的一幅二维投影图像。但上述检查方式下，箱内物体纵深方向上的投影重叠在一起，丢失了深度信息。尤其对于爆炸物、危险品等轻原子序数材料，X射线透射后灰度衰减不够明显，严重影响此类物体形状、位置等特征的辨认和识别。

目前获取三维透视图像的常用手段有CT层析成像和立体匹配技术等。CT层析成像技术复杂，成本昂贵，且成像时间长，因而限制了其在工业实时检测中的应用。而较复杂物体在立体匹配过程中，灰度重建和边界处理复杂，计算量也很大，难以实际应用。因而有必要研究其他技术来获取集装箱内物体的三维成像信息。

发明内容

考虑到现有技术中的一个或多个问题，提出了一种检查诸如集装箱之类的被检查物体的检查设备和检查方法。

根据本公开的一个方面，提出了一种对集装箱进行检查的方法，包括步骤：利用包括稀疏面阵探测器的扫描设备对被检查集装箱进行透射扫描，得到扫描数据；在深度方向的特定深度位置进行数字聚焦；滤除散焦的像素值，得到该特定深度位置处的切片图像；判断该切片图像中是否包含危险品或者可疑物品。

根据一些实施例，根据下式进行数字聚焦：

Δx＝(L-Z)/L·ΔD

其中L为射线源到探测器平面的水平距离，ΔD表示探测器单元相对于稀疏面阵探测器中心线的偏移量，Δx表示同一投影射线深度为Z的物体点的成像位置偏移量。

根据一些实施例，所述稀疏面阵探测器包括：第一组稀疏面阵探测单元，探测所述射线中第一能量范围的那部分射线；第二组稀疏面阵探测单元，探测所述射线中第二能量范围的那部分射线，其中第二能量范围高于第一能量范围。

根据一些实施例，所述稀疏面阵探测器的每个探测单元包括低能探测部分、滤波片和高能探测部分。

根据一些实施例，针对不同的深度位置分别进行数字聚焦并滤除散焦的像素值，得到各位置的切片图像，以及通过动画的方式连续播放这些切片图像。

根据一些实施例，所述的方法包括步骤：通过输入装置连续调节深度位置；其中随着调节步骤以动画的方式播放不同深度值下的切片图像。

根据一些实施例，所述的方法还包括步骤：基于稀疏面阵探测器中各个探测单元相对于中心线的偏移从探测的数据创建被检查物体的二维透射图像。

根据一些实施例，所述的方法包括步骤：结合所述二维透射图像和切片图像对应的深度值确定危险品或者可疑物品在集装箱中的位置。

根据本公开的另一方面，提出了一种检查设备包括：扫描设备，包括射线源和稀疏面阵探测器，对被检查集装箱进行透射扫描，得到扫描数据；数据处理设备，在深度方向的特定深度位置进行数字聚焦，滤除散焦的像素值，得到该特定深度位置处的切片图像，并且判断该切片图像中是否包含危险品或者可疑物品。

根据一些实施例，所述稀疏面阵探测器包括：第一组稀疏面阵探测单元，探测所述射线中第一能量范围的那部分射线；第二组稀疏面阵探测单元，探测所述射线中第二能量范围的那部分射线，其中第二能量范围高于第一能量范围。