[发明专利]一种AlN SAW光电集成器件的制作方法有效
申请号: | 201611228236.6 | 申请日: | 2016-12-27 |
公开(公告)号: | CN106603032B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 陈一峰 | 申请(专利权)人: | 成都海威华芯科技有限公司 |
主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02;H03H9/02;H03H9/64 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐丰 |
地址: | 610029 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 alnsaw 光电 集成 器件 制作方法 | ||
本发明涉及一种GaAs AlN SAW光电集成器件的制作方法,即将AlN SAW器件、InGaP HBT放大器、GaAs PN限幅器和GaAs pHEMT低噪放通过外延层设计,实现射频接收/发射前端的器件单片集成,从而使以下设想成为可能:在未来的射频通信中,射频信号进入射频接收/发射组件,通过AlN SAW实现滤波功能,滤波后的射频信号通过GaAs限幅器处理后,进入GaAs pHEMT低噪声放大器,利用pHEMT良好的噪声特性进行信号处理,送入后续的信号处理器件中,如混频器等;当进行信号发射时,可以利用GaAs pHEMT工艺制作开关,实现发射与接收模式的切换,也可用于输出功率不大的驱动放大器,而HBT器件制作功放芯片可用于发射端的功率放大器。
技术领域
本发明涉及一种AlN SAW光电集成器件的制作方法,属于半导体制造领域。
背景技术
进入二十一世纪以来,社会迈入了超高速发展的信息时代,全球数据业务呈现爆炸式增长,射频通信技术得到了广泛地应用。
目前,主流的射频前端端架构为:SAW滤波器+GaAs pHEMT放大器+ GaAs HBT放大器+PN限幅器,四种独立的芯片构成一个完整的接收/发射功能单元,但存在以下问题:
1.组装时需调试,不利于大生产且人为因素的介入引入不确定因素,不利于提升整个组件的质量;
2.四款独立的芯片无法集成,对系统的进一步小型化和多功能不利;
3.四款独立的芯片,不利于成本的进一步降低。
随着科技的发展,GaAs放大器技术的应用越来越普及,另一方面,高性能的AlN薄膜已可以实现低温(≤300℃)甚至常温制备,使后续的AlN器件集成成为可能。
本专利提出将GaAs HBT器件与AlN器件多个集成,即将GaAs HBT、GaAs pHEMT、GaAs 限幅器与AlN SAW限幅器集成。整个工作模式为:
1.利用AlN SAW制作的滤波器,对空间中的射频信号进行滤波处理,
2.将滤波后的信号利用GaAs HBT放大器进行放大,同时,HBT中PN结可用于限幅器的制作,限幅器的作用是小信号输入时呈现小损耗,大信号输入时进行大幅衰减,有利于对后续集成电路输入端的保护;
3.单片集成的GaAs pHEMT主要用于射频接收端的低噪声放大、开关,GaAs HBT主要用于发射端的功率放大器。
因此,该专利对进一步提高IC功能,提高集成度,简化系统,降低尺寸和成本有很好的益处。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是:一种AlN SAW光电集成器件的制作方法,其特征在于,光电集成器件外延结构从下至上依次包括:衬底、缓冲层,spacer1隔离层、沟道层、spacer2隔离层、δ掺杂层、势垒层、腐蚀截至层、N+-GaAs集电区、N-GaAs集电区、基区、发射区、帽层、器件隔离层和AlN层,其制作方法包括如下步骤:
步骤1:采用离子注入或刻蚀的方法,形成器件隔离111,将所述外延结构分为4个相互隔离的区域;
步骤2:采用光刻、刻蚀、金属沉积、剥离工艺形成在第一个隔离区域内声表面波滤波器件;
步骤3:光刻、刻蚀形成在第二个隔离区域内形成HBT台面,刻蚀深度从AlN层深入集电区表面,留出集电区左侧贴近隔离器件部分形成HBT台面,在基区台面上腐蚀发射区和帽层两侧;
步骤4:腐蚀第三个隔离区域的AlN层、器件隔离层和帽层区域,刻蚀第三个区域内的一侧,深度至该区域集电区;
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