[发明专利]电流测试方法及电子设备在审
申请号: | 201611234169.9 | 申请日: | 2016-12-28 |
公开(公告)号: | CN106771541A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 韩秉权 | 申请(专利权)人: | 深圳众思科技有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 杨文娟,刘芳 |
地址: | 518063 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流 测试 方法 电子设备 | ||
1.一种电流测试方法,其特征在于,包括:
通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上;
根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流之后,还包括:
将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后,还包括:
所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流,并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上之后,还包括:
所述电子设备根据所述第一电流得到所述电子设备的电流功耗。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述通过电子设备的模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压包括:
所述ADC每间隔第一时间对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后,还包括:
获取所述内部寄存器中的每间隔第一时间得到的所述第一电流。
7.根据权利要求4或6所述的方法,其特征在于,所述通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压之前还包括:
开启所述ADC的采样开关,使所述ADC开始对所述第一电阻上的电压进行采样。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:
模/数转换器ADC、电池和第一电阻;
所述第一电阻串接在所述电子设备和所述电池之间的回路上;
所述ADC用于对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压,以使所述电子设备根据所述第一电压与所述第一电阻的比值得到第一电流。
9.根据权利要求8所述的电子设备,其特征在于,还包括:内部寄存器;
所述内部寄存器用于储存所述第一电流。
10.根据权利要求9所述的电子设备,其特征在于,
所述ADC还用于每间隔第一时间对所述第一电阻的电压进行采样得到每间隔第一时间的第一电压,以使所述电子设备根据所述每间隔第一时间的第一电压与所述第一电阻的比值得到每间隔第一时间的第一电流;
所述内部寄存器还用于储存所述每间隔第一时间的第一电流。
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