[发明专利]电流测试方法及电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及电子技术，尤其涉及一种电流测试方法及电子设备。

背景技术

电子设备不论在出厂前的测试还是投入使用后的测试，都需要获取电子设备运行时的电流，以通过电流得到功耗并判断电子设备的工作状态。

现有技术中，为了得到电子设备运行时的电流，通过外部的直流电源向电子设备供电，并通过电脑检测直流电源向电子设备输出的电流，从而得到电子设备运行时的电流。

采用现有技术，测试电子设备的电流时所需的仪器较多，电流测试的方法较为复杂。

发明内容

本发明提供一种电流测试方法及电子设备，简化了电流测试的方法。

本发明提供一种电流测试方法，包括：通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，所述第一电阻串接在电子设备和所述电子设备的电池之间的回路上；

根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

在本发明一实施例中，所述根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流之后，还包括：

将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内。

在本发明一实施例中，所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后，还包括：

所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流，并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上。

在本发明一实施例中，所述电子设备获取所述内部寄存器中的所述第一电流，并将所述第一电流显示在所述电子设备的显示装置上之后，还包括：

所述电子设备根据所述第一电流得到所述电子设备的电流功耗。

在本发明一实施例中，所述通过电子设备的模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压包括：

所述ADC每间隔第一时间对所述第一电阻上的电压进行采样得到第一电压。

在本发明一实施例中，所述将所述第一电流储存在所述电子设备的内部寄存器内之后，还包括：

获取所述内部寄存器中的每间隔第一时间得到的所述第一电流。

在本发明一实施例中，所述通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压之前还包括：

开启所述ADC的采样开关，使所述ADC开始对所述第一电阻上的电压进行采样。

本发明提供一种电子设备，包括：

模/数转换器ADC、电池和第一电阻；

所述第一电阻串接在所述电子设备和所述电池之间的回路上；

所述ADC用于对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，以使所述电子设备根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。

在本发明一实施例中，还包括：内部寄存器；

所述内部寄存器用于储存所述第一电流。

在本发明一实施例中，所述ADC还用于每间隔第一时间对所述第一电阻的电压进行采样得到每间隔第一时间的第一电压，以使所述电子设备根据所述每间隔第一时间的第一电压与所述第一电阻的比值得到每间隔第一时间的第一电流；

所述内部寄存器还用于储存所述每间隔第一时间的第一电流。

本发明提供一种电流测试方法及电子设备，其中，电流测试方法包括：通过模/数转换器ADC对第一电阻上的电压进行采样得到第一电压，第一电阻串接在电子设备和电子设备的电池之间的回路上，根据第一电压与第一电阻的比值得到第一电流。本发明提供的电流测试方法及电子设备，通过电子设备自身的ADC对第一电阻的电压进行采样，并由电子设备自身得到第一电流，从而在电流测试时不需要设置其他测试设备，简化了电流测试的方法。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明电流测试方法实施例一的流程示意图；

图2为本发明电流测试方法实施例二的流程示意图；

图3为本发明电流测试方法实施例三的流程示意图；

图4为本发明电子设备实施例一的结构示意图；

图5为本发明电子设备实施例二的结构示意图。

具体实施方式