[发明专利]一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC-ELSD双校正因子法有效

专利信息
申请号: 201611241484.4 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106706792B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 张慧;李于采薇;周洁;周静;赵卿;霍立茹;李战 申请(专利权)人: 南京济群医药科技股份有限公司
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/74
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211112 江苏省南京市江宁区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 化学药物 校正因子 蒸发光散射检测器 标准曲线方程 高效液相色谱 通用型检测器 药物分析技术 流动相梯度 杂质对照品 经济实用 紫外吸收 热稳定 截距 校正 检测
【权利要求书】:

1.一种HPLC-ELSD双校正因子计算方法:

a)通过标准曲线方程LgA=kLgC+b,得到k供试品对照、k杂质对照、b供试品对照、b杂质对照

斜率k=SLOPE(LgA,LgC)

截距b=INTERCEPT(LgA,LgC)

b)计算双校正因子Fk=k供试品对照/k杂质对照

Fb=b供试品对照/b杂质对照

所述步骤a)具体操作方法:配制n组不同浓度的化学药物及其有关物质混合对照溶液,注入高效液相色谱仪,测定色谱峰峰面积,得到标准曲线方程LgA=k供试品对照LgC+b供试品对照、LgA=k杂质对照LgC+b杂质对照,分别于不同时间或不同品牌相同填料色谱柱获得m条化学药物及其各有关物质的标准曲线方程,得到m组k供试品对照j和b供试品对照j、k杂质对照j和b杂质对照j数据,n为大于等于2的整数,j为大于0且小于等于m的整数,m为大于等于1的整数;

所述步骤b)具体计算方法:Fkj=k供试品对照j/k杂质对照j和Fbj=b供试品对照j/b杂质对照j,将Fk1~Fkm、Fb1~Fbm值取平均,得到各个杂质相对于化学药物的双校正因子Fk、Fb或者Fk’、Fb’。

2.如权利要求1所述的HPLC-ELSD双校正因子计算方法,其特征在于,所述计算公式b)双校正因子亦可表述为Fk’=k杂质对照/k供试品对照,Fb’=b杂质对照/b供试品对照

3.如权利要求2所述的HPLC-ELSD双校正因子计算方法,其特征在于,所述n取值为3,配制的浓度为限度浓度的50%~80%、90%~110%、120%~150%。

4.如权利要求2所述的HPLC-ELSD双校正因子计算方法,其特征在于,各杂质相对于化学物质的双校正因子Fk、Fb或者Fk’、Fb’,为保留3~4位有效数字的固定常数。

5.一种计算化学药物中有关物质杂质浓度的HPLC-ELSD双校正因子法,其特征在于:包括如下步骤:

1)通过权利要求1-4任一项方法计算得到Fb、Fk或Fb’、Fk’;

2)绘制样品对照品标准曲线方程,计算b、k

3)测定待测化学药物的杂质峰面积A

4)杂质浓度由以下公式计算得到:C=10^{[LgA-(b/Fb)]/(k/Fk)},或C=10^{[LgA -(b*Fb’)]/(k*Fk’)},杂质浓度C的单位为mg/ml。

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