[发明专利]一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC-ELSD双校正因子法

说明书

本发明涉及药物分析技术领域，公开了一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC‑ELSD双校正因子法。本发明特别针对大多数无紫外吸收的热稳定化学药物，采用HPLC‑ELSD，即高效液相色谱和通用型检测器蒸发光散射检测器相结合的技术，可达到快速有效的检测，不受流动相梯度的影响。根据标准曲线方程，用本发明的双校正因子主成分自身对照法，即同时对斜率k和截距b进行校正，不仅能精确的计算出化学药物中有关物质的百分含量，还可以减少杂质对照品的使用量，操作简单，经济实用，准确可靠，可通用于所有化学药物中有关物质含量的计算。

技术领域

本发明涉及药物分析技术领域，特别涉及一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC-ELSD双校正因子法。

背景技术

相对校正因子F：由于同一检测器对不同物质的响应值不同，所以当相同质量的不同物质通过检测器时，产生的峰面积不一定相等。为使峰面积能够准确地反映待测组分的含量，就必须先用已知量的待测组分测定在所用色谱条件下的峰面积，以计算定量校正因子F＝(A杂/C杂)/(A样/C样)，对于常规线性方程可推导F＝杂质斜率/样品斜率。

蒸发光散射检测器(Evaporative Light Scattering Detector，简称ELSD)，又称蒸发型质量检测器，是一种通用型质量检测器。不仅可弥补常规紫外检测(UVD)不能检测无紫外吸收或只有紫外末端吸收物质的缺陷,而且与同样可用于无紫外吸收物质检测的示差折光检测(RID)相比,灵敏度略高、受温度等实验条件影响小和可用于梯度洗脱等优点，对比较新型的电雾式检测器(CAD)具有性价比高，更低的使用成本和普遍通用的优点。

虽然ELSD在相同的色谱条件下，物理性质相似的物质在ELSD中形成的颗粒大小、形状接近，因而可以给出相对一致的响应。然而在实际运用的过程中发现，不同物质的响应略有差别，特别是梯度变化前后的物质响应差较大。由于ELSD的标准方曲线方程是对数型线性LgC＝kLgA+b，待测物浓度计算为指数型C＝10^((LgA-b)/k)。所以样品及其有关物质的标准曲线方程k、b值只要略有差异，测得量就会有指数级别的差异。如粗略用相对校正因子＝1的主成分自身对照法或只对斜率k进行精确校正后代入计算，其测定结果极不准确。因而ELSD多采用对照品外标法，但对于有关物质较多的样品来说操作复杂且成本昂贵。目前，对于用HPLC-ELSD检测有关物质含量的报道一般采用杂质对照品外标法或将校正因子近似为1代入计算，前者杂质对照品消耗量大，后者的结果经验证回收率范围远超2015版药典规定，现并没有一种方法能精确的计算化学药物与其有关物质校正因子，对于运用HPLC-ELSD精准的检测有关物质的含量存在瓶颈。

发明内容

为了解决上述问题，本发明推算出一种计算化学药物中有关物质含量的HPLC-ELSD双校正因子法，此方法可用于所有ELSD检测器测定化学药物有关物质的含量，测量精确，操作方便，简单易实施，无需消耗昂贵且不易获得的杂质对照品。

本发明的目的通过以下技术方案实现，包括以下：

一种HPLC-ELSD双校正因子计算方法：

a)通过标准曲线方程LgA＝kLgC+b，得到k_{供试品对照}、k_杂质对照、b_{供试品对照}、b_杂质对照

斜率k＝SLOPE(LgA,LgC)

截距b＝INTERCEPT(LgA,LgC)，

其中A表示供试品对照品、杂质对照品峰面积；

C表示供试品对照品、杂质对照品浓度(mg/ml)；

k_{供试品对照}表示供试品对照品标准曲线方程的斜率；

k_杂质对照表示杂质品对照品标准曲线方程的斜率；