[发明专利]集成电路测试方法

权利要求书

1.一种集成电路测试方法，包含下列步骤：

产生N种测试图样，其中所述N为大于1的整数；

依据所述N种测试图样测试M个芯片的每一个，从而产生N×M个静态直流电流值，其中所述M个芯片的每一个关联于依据所述N种测试图样所产生的N个静态直流电流值，所述N种测试图样的每一种关联于依据所述M个芯片所产生的M个静态直流电流值，所述M为正整数；

依据所述N种测试图样的每一种的M个静态直流电流值产生参考值，再按照所产生的N个参考值以及预设排序规则来得到所述N种测试图样的参考顺序；

依据所述N种测试图样的参考顺序来对所述N×M个静态直流电流值进行排序，进而依据排序后的所述N×M个静态直流电流值来产生静态直流电流范围；以及

基于所述静态直流电流范围与所述N×M个静态直流电流值来进行分析以判断是否有任何不良芯片存在于所述M个芯片中；

其中,产生所述静态直流电流范围的步骤包含：依据排序后的所述N×M个静态直流电流值产生N'×M个静态直流电流差异值，其中所述N'等于所述N或(N-1)；

其中产生所述N'×M个静态直流电流差异值的步骤包含：

在所述N种测试图样的参考顺序下，将所述N种测试图样的第X组所关联的M个静态直流电流值分别减去所述N种测试图样的第(X-1)组所关联的M个静态直流电流值，以得到所述N'×M个静态直流电流差异值中的包含M个数据的一组差异值，从而依据所述X的所有可能值来得到所述N'×M个静态直流电流差异值中的包含(N-1)×M个静态直流电流差异值的(N-1)组差异值，其中所述X为大于1且不大于所述N的正整数；以及

若所述N'等于所述N，依据预设规则补上M个静态直流电流差异值，以得到N×M个静态直流电流差异值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中产生所述静态直流电流范围的步骤还包含：

依据所述N'×M个静态直流电流差异值来产生所述静态直流电流范围。

3.根据权利要求2所述的方法，其中产生所述静态直流电流范围的步骤进一步包含：

依据所述N'×M个静态直流电流差异值的平均值以及依据所述N'×M个静态直流电流差异值的标准差的K倍来产生所述静态直流电流范围，其中所述K为整数或分数。

4.根据权利要求3所述的方法，进一步包含：

判断所述(N-1)组差异值的每一组的标准差是否达到阈值，若所述(N-1)组差异值中有某一组差异值的标准差达到所述阈值，移除所述某一组差异值以依据其它组差异值来产生所述静态直流电流范围。

5.根据权利要求4所述的方法，其中判断所述某一组差异值的标准差是否达到所述阈值的步骤包含：

计算所述(N-1)组差异值的每一组的标准差，以得到(N-1)个标准差；

依据所述(N-1)个标准差的平均值以及依据所述(N-1)个标准差的标准差的K倍来产生所述阈值，其中所述K为整数或分数。

6.根据权利要求1所述的方法，其中依据所述N种测试图样的每一种的M个静态直流电流值产生所述参考值的步骤包含：

依据所述M个静态直流电流值的平均值以及依据所述M个静态直流电流值的标准差的K倍来产生所述参考值，其中所述K为整数或分数。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述预设排序规则为升序规则。