[发明专利]显示面板的测试方法与测试装置

权利要求书

1.一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该方法包括以下步骤：

步骤一、在所述数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线；

步骤二、将与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至所述第一信号线，将与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚连接至所述第二信号线；

步骤三、在所述数据IC的两侧设置测试模块，所述测试模块能够输出第一测试信号与第二测试信号，将所述第一测试信号输入到所述第一信号线，将所述第二测试信号输入到所述第二信号线；

步骤四、以所述第一测试信号与第二测试信号分别驱动所述显示区中的各数据线，并根据显示的画面来判断显示面板是否存在异常；

步骤五、切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤五中，在切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接时，

保留所述第一信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个；

保留所述第二信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在步骤一中，在所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域布设所述第一信号线和第二信号线。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在步骤五中，利用激光切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤五后还包括：

步骤六、利用示波器分别连接所述第一信号线与第二信号线以显示所述数据IC的信号输出引脚所输出的数据信号的波形，根据所述波形判断数据IC是否存在故障。

7.一种显示面板的测试装置，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该装置包括：

信号传输模块，其包括布设于所述数据IC的绑定区域的第一信号线与第二信号线，所述第一信号线同时与第一测试信号及与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接，所述第二信号线同时与第二测试信号及与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚相连接；

测试模块，设置于所述数据IC的两侧，其设置为生成并输出第一测试信号与第二测试信号，所述第一测试信号与第二测试信号用于驱动所述显示区中的各数据线以形成显示画面，根据所述显示画面来判断显示面板是否存在异常；

切断模块，其设置为在异常判断结束后切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一信号线和第二信号线布设于所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

10.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述切断模块包括激光切断单元。