[发明专利]显示面板的测试方法与测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其是涉及一种显示面板的测试方法与测试装置。

背景技术

目前，液晶显示面板的发展趋势变得多元化，在发展的同时，面临的技术问题也越来越复杂，并进一步导致液晶显示面板的生产的良品率相对降低。为保证成盒(Cell)后液晶显示面板的良品率，一般会在液晶显示面板上设计成盒测试(Cell Test)电路。

但在现有技术中，利用成盒测试电路对液晶显示面板进行成盒测试后会存在如下问题，一方面，由于成盒测试电路中设置有用于测试的薄膜晶体管，因此将使得液晶显示面板的高度增加。且用于驱动上述薄膜晶体管的使能信号线以及测试信号线需要在显示面板的两侧进行布设，因而会增加显示面板的宽度。

另一方面，在完成显示面板的成盒测试后，为了保证显示面板能够接收数据IC的驱动信号来正常显示画面，需要通过使能信号使薄膜晶体管处于关闭状态，而此时上述与薄膜晶体管相连接的各测试信号线将均处于浮置状态，并且由于薄膜晶体管的漏电流不可能完全为零，因此薄膜晶体管之间的耦合作用将导致串扰现象发生。当薄膜晶体管的漏电流比较大或薄膜晶体管的栅极电压(连接使能信号)有浮动时，会导致面板闪烁显著增加。

另外，由于测试时需要向成盒测试区提供使能信号，因此会增加显示面板的功耗。

综上，亟需一种新的测试方式以减小显示面板的体积，降低其功耗以及改善其画面闪烁的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种能够减小显示面板的体积，降低其功耗以及改善其画面闪烁的问题的新的显示面板的测试方式。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括显示区，在所述显示区的外围设置有解复用电路、数据IC和扇区走线，所述数据IC的各数据信号输出引脚依次通过扇区走线和解复用电路与显示区的各条数据线相连接，该方法包括以下步骤：步骤一、在所述数据IC的绑定区域布设第一信号线与第二信号线；步骤二、将与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚输入到所述第一信号线，将与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚输入到所述第二信号线；步骤三、在所述数据IC的两侧设置测试模块，所述测试模块能够输出第一测试信号与第二测试信号，将所述第一测试信号连接至所述第一信号线，将所述第二测试信号连接至所述第二信号线；步骤四、以所述第一测试信号与第二测试信号分别驱动所述显示区中的各数据线，并根据显示的画面来判断显示面板是否存在异常；步骤五、切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

优选地，在步骤五中，在切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接时，保留所述第一信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的奇数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个；保留所述第二信号线与一个数据IC的信号输出引脚之间的连接，所述信号输出引脚为与所述显示区中的偶数列数据线相对应的数据IC的信号输出引脚中的任意一个。

优选地，在步骤一中，在所述数据IC的信号输入引脚与信号输出引脚之间的区域布设所述第一信号线和第二信号线。

优选地，所述第一测试信号与第二测试信号包括灰阶电压信号。

优选地，在步骤五中，利用激光切断所述第一信号线与第二信号线与所述数据IC的信号输出引脚之间的连接。

优选地，在步骤五后还包括：步骤六、利用示波器分别连接所述第一信号线与第二信号线以显示所述数据IC的信号输出引脚所输出的数据信号的波形，根据所述波形判断数据IC是否存在故障。