[发明专利]用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法有效

专利信息
申请号: 201611258264.2 申请日: 2016-12-30
公开(公告)号: CN106646627B 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 张继红;殷建国 申请(专利权)人: 合肥通用机械研究院有限公司
主分类号: G01V3/11 分类号: G01V3/11
代理公司: 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 代理人: 王挺
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 金属杂质 信号处理电路 金属探测仪 信号发射电路 接收电路 报警执行电路 定位检测 发射信号 一路信号 金属 剔除 金属杂质剔除 双向通信连接 信号接收电路 信号输入端 表面形成 多路信号 检出装置 剔除机构 电磁场 自动化 报警 发送 驱动 输出
【权利要求书】:

1.用于定位检测金属杂质的金属探测仪,其特征在于:包括信号发射电路(10)、多路信号接收电路(20)、信号处理电路(30)以及报警执行电路(40),其中,

信号发射电路(10),用于接收信号处理电路(30)发出的信号,从而在金属探测仪表面形成电磁场,所述信号发射电路(10)输出发射信号至信号接收电路(20)的信号输入端;

每一路信号接收电路(20)均与信号处理电路(30)之间双向通信连接;

信号处理电路(30),用于判断信号接收电路(20)发送来的发射信号是否存在异常,若存在异常,信号处理电路(30)输出处理信号至报警执行电路(40)的信号输入端;若不存在异常,则通过金属探测仪的待检测物体不存在金属杂质;

报警执行电路(40),用于报警或驱动金属检出装置剔除金属杂质;

本金属探测仪设置于待检测物体的正上方或正下方,每一路所述信号接收电路(20)均匀地分布于本金属探测仪中,每一路信号接收电路(20)彼此之间的间隔距离相等,且与待检测物体的移动方向垂直;

设信号接收电路(20)中的接收线圈(21)为N路,以每一个接收线圈(21)的圆心为裁切中心点,可得N个裁切中心点;以相邻的两个接收线圈(21)的圆心之间的中点为裁切中心点,可得N-1个裁切中心点;则裁切中心点的总数为2N-1个,即Y轴方向上的裁切点坐标设置为2N-1个;

所述信号发射电路(10)包括发射线圈(11)、第一谐振模块(12)、功率放大器模块(13)、第一二级放大器模块(14)以及三阶RC低通滤波器模块(15),所述三阶RC低通滤波器模块(15)的信号输入端连接信号处理电路(30)的信号输出端,三阶RC低通滤波器模块(15)的信号输出端连接第一二级放大器模块(14)的信号输入端,所述第一二级放大器模块(14)的信号输出端连接功率放大器模块(13)的信号输入端,所述功率放大器模块(13)的信号输出端连接第一谐振模块(12)的信号输入端,所述第一谐振模块(12)的信号输出端连接发射线圈(11)的信号输入端,所述发射线圈(11)的信号输出端输出发射信号至信号接收电路(20)的信号输入端;

所述信号接收电路(20)包括接收线圈(21)、第二谐振模块(22)、第二二级放大器模块(23)、电压比较器模块(24)以及二阶RC低通滤波器模块(25),所述接收线圈(21)的信号输入端用于接收来自发射线圈(11)的发射信号,接收线圈(21)的信号输出端连接第二谐振模块(22)的信号输入端,所述第二谐振模块(22)的信号输出端连接第二二级放大器模块(23)的信号输入端,所述第二二级放大器模块(23)的信号输出端连接电压比较器模块(24)的一个信号输入端,所述电压比较器模块(24)的另一个信号输入端连接二阶RC低通滤波器模块(25)的信号输出端,电压比较器模块(24)的信号输出端连接信号处理电路(30)的信号输入端;

所述信号处理电路(30)包括第一芯片(31)、第二芯片(32),所述第一芯片(31)的信号输出端分别连接三阶RC低通滤波器模块(15)的信号输入端、二阶RC低通滤波器模块(25)的信号输入端,第一芯片(31)的信号输入端连接电压比较器模块(24)的信号输出端,所述第一芯片(31)与第二芯片(32)之间双向通信连接,所述第二芯片(32)的信号输出端连接报警执行电路(40)的信号输入端,第二芯片(32)的信号输入端连接X轴限位开关、Y轴限位开关以及Z轴限位开关,第二芯片(32)还与串口触摸屏之间双向通信连接。

2.如权利要求1所述的用于定位检测金属杂质的金属探测仪,其特征在于:所述报警执行电路(40)包括金属报警继电器(41)、大金属报警继电器(42),所述金属报警继电器(41)的信号输入端、大金属报警继电器(42)的信号输入端均通过继电器驱动电路连接第二芯片(32)的信号输出端,所述第二芯片(32)的信号输出端分别连接X轴步进电机驱动模块的信号输入端、Y轴步进电机驱动模块的信号输入端、Z轴步进电机驱动模块的信号输入端。

3.如权利要求1所述的用于定位检测金属杂质的金属探测仪,其特征在于:所述第一芯片(31)、第二芯片(32)的型号均为中国宏晶科技有限公司生产的STC15F2K60S2芯片。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥通用机械研究院有限公司,未经合肥通用机械研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611258264.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top