[发明专利]用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法有效
申请号: | 201611258264.2 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN106646627B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 张继红;殷建国 | 申请(专利权)人: | 合肥通用机械研究院有限公司 |
主分类号: | G01V3/11 | 分类号: | G01V3/11 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 王挺 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属杂质 信号处理电路 金属探测仪 信号发射电路 接收电路 报警执行电路 定位检测 发射信号 一路信号 金属 剔除 金属杂质剔除 双向通信连接 信号接收电路 信号输入端 表面形成 多路信号 检出装置 剔除机构 电磁场 自动化 报警 发送 驱动 输出 | ||
本发明涉及一种金属探测仪,特别涉及一种用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法。本发明包括信号发射电路、多路信号接收电路、信号处理电路、报警执行电路,信号发射电路用于接收来自信号处理电路发出的信号,从而在金属探测仪表面形成电磁场,信号发射电路输出发射信号至信号接收电路的信号输入端;每一路信号接收电路均与信号处理电路之间双向通信连接;信号处理电路用于判断每一路信号接收电路发送来的发射信号是否存在异常,报警执行电路用于报警或驱动金属检出装置剔除金属杂质。本发明能够确定金属杂质的具体位置,方便剔除机构准确剔除金属杂质,确保工业生产的连续和金属杂质剔除的自动化。
技术领域
本发明涉及一种金属探测仪,特别涉及一种用于定位检测金属杂质的金属探测仪及其金属定位方法。
背景技术
在橡胶轮胎工业现场需要检测橡胶胶料中的金属杂质,例如钢丝压延生产线上要求供胶机上的胶片连续供胶而不能中断。
通常使用的金属探测仪,因其结构内只含有一个发射线圈和一个接收线圈,当发现金属杂质时,只能在线圈覆盖范围内确认含有金属,却无法确定金属杂质在胶片中的具体位置。这就必须要裁切整个线圈覆盖范围内的胶片,并且之后需要把切断的胶片连接起来,才能够保证连续供胶。
使用传统的金属探测仪,由于无法准确地对金属进行定位,不管是使用人工裁切、还是使用了自动裁切机构的生产线,都需要把胶片整体切断,再通过人工把切断的胶片重新连接起来,显然大大增加了企业的生产成本和人力成本,严重影响了生产的效率。而且传统的框架结构的金属探测仪传感器,胶料要从探测线圈中间穿过,经常会产生挤胶等现象,如不及时处理会破坏金属探测仪。
发明内容
本发明为了克服上述现有技术的不足,提供了用于定位检测金属杂质的金属探测仪,本发明能够确定金属杂质在物料中的位置,方便剔除机构准确剔除金属杂质,确保工业生产的连续和金属杂质剔除的自动化。
为实现上述目的,本发明采用了以下技术措施:
用于定位检测金属杂质的金属探测仪包括信号发射电路、多路信号接收电路、信号处理电路以及报警执行电路,其中,
信号发射电路,用于接收信号处理电路发出的信号,从而在金属探测仪表面形成电磁场,所述信号发射电路输出发射信号至信号接收电路的信号输入端;
每一路信号接收电路均与信号处理电路之间双向通信连接;
信号处理电路,用于判断信号接收电路发送来的发射信号是否存在异常,若存在异常,信号处理电路输出处理信号至报警执行电路的信号输入端;若不存在异常,则通过金属探测仪的待检测物体不存在金属杂质;
报警执行电路,用于报警或驱动金属检出装置剔除金属杂质。
优选的,所述信号发射电路包括发射线圈、第一谐振模块、功率放大器模块、第一二级放大器模块以及三阶RC低通滤波器模块,所述三阶RC低通滤波器模块的信号输入端连接信号处理电路的信号输出端,三阶RC低通滤波器模块的信号输出端连接第一二级放大器模块的信号输入端,所述第一二级放大器模块的信号输出端连接功率放大器模块的信号输入端,所述功率放大器模块的信号输出端连接第一谐振模块的信号输入端,所述第一谐振模块的信号输出端连接发射线圈的信号输入端,所述发射线圈的信号输出端输出发射信号至信号接收电路的信号输入端。
优选的,所述信号接收电路包括接收线圈、第二谐振模块、第二二级放大器模块、电压比较器模块以及二阶RC低通滤波器模块,所述接收线圈的信号输入端用于接收来自发射线圈的发射信号,接收线圈的信号输出端连接第二谐振模块的信号输入端,所述第二谐振模块的信号输出端连接第二二级放大器模块的信号输入端,所述第二二级放大器模块的信号输出端连接电压比较器模块的一个信号输入端,所述电压比较器模块的另一个信号输入端连接二阶RC低通滤波器模块的信号输出端,电压比较器模块的信号输出端连接信号处理电路的信号输入端。
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