[实用新型]检测电路结构、阵列基板及显示面板有效

专利信息
申请号: 201620006016.8 申请日: 2016-01-04
公开(公告)号: CN205282048U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 张小祥;刘正;张治超;刘明悬;陈曦;郭会斌 申请(专利权)人: 北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 电路 结构 阵列 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种检测电路结构,包括在衬底基板上设置的多个待检测走线和用于 向所述待检测走线输入检测信号的多个信号通入走线,多个待检测走线和多个 信号通入走线相互绝缘且交叉布置;其特征在于,

每一所述信号通入走线上包括断开的至少两个子走线,且每一所述信号通 入走线的各子走线之间的断开区域对应有待检测走线,每一所述信号通入走线 上的各子走线之间通过连接线进行连接,且各子走线之间的断开区域所对应的 待检测走线与所述连接线之间形成第一重合区域;

其中所述连接线的两端分别通过第一过孔和第二过孔与所述信号通入走 线连接,并通过第三过孔在所述第一重合区域与所述待检测走线连接。

2.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述信号通入走线与所述待检测走线之间交叉布置而形成多个第二重合 区域,其中所述第一过孔和所述第二过孔位于所述第二重合区域。

3.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

不同所述信号通入走线上的断开区域错开设置,每一所述信号通入走线与 对应的所述待检测走线通过所述连接线连接。

4.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述连接线设置于所述信号通入走线的远离所述待检测走线的一侧。

5.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述连接线与所述信号通入走线的之间设有绝缘层。

6.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述多个待检测走线沿第一方向平行设置;所述多个信号通入走线 沿第二方向平行设置;所述第一方向和所述第二方向相互垂直。

7.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述待检测走线包括栅线。

8.根据权利要求1所述的检测电路结构,其特征在于,

所述连接线由沉积在衬底基板上的氧化铟锡层形成。

9.一种阵列基板,其特征在于,包括如权利要求1-8任一项所述的检测 电路结构。

10.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求9所述的阵列基板。

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