[实用新型]气流控制装置有效
申请号: | 201620085717.5 | 申请日: | 2016-01-28 |
公开(公告)号: | CN205319132U | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 朱琨;钟立华;王冰;陈亮;王石 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 王刚;龚敏 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气流 控制 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种气流控制装置。
背景技术
六甲基二硅胺烷(HexMethyDiSilylamine,简称HMDS)是半导体光刻工 艺中一种常用的耗材。一般在光刻工艺中,在基板上涂布光刻胶之前,先在 基板上均匀涂布一层气态形式的HMDS,用以增大光刻胶与基板表面之间的 粘合度。
相关技术中,HMDS直接从气流控制装置的管路出口垂直沉积到出口的 正下方的基板表面,然后通过表面扩散方式,扩散到基板表面的其他位置, 进而完成HMDS的涂布。因此,位于管路出口正前方的光刻胶区域被称之为 沉积区域,而通过表面扩散方式所形成的光刻胶区域被称之为扩散区域。
但是,相关技术中,HMDS垂直沉积到基板表面后,由于HMDS气体被 加压后从气流控制装置的管路出口直接附着在基板上,HMDS气体在压力和 重力的作用下,会与基板之间形成较大的接触力,从而很容易附着在基板上, 而HMDS气体向其它区域扩散后,这些扩散后的HMDS气体仅在重力的作 用下堆积在基板表面,因此与基板的接触力较小,从而不易附着在基板上。 这就导致在涂布光刻胶后,处于扩散区域内的光刻胶与基板的粘合度较低, 使光刻胶易从基板上剥离。
实用新型内容
本实用新型提供一种气流控制装置,以实现减少整个基板的表面上 HMDS气体的扩散区,使HMDS气体喷向基板的表面时,与基板的表面有足 够的接触力,从而很容易附着在基板上,进而实现了在该基板涂布光刻胶时, 增强光刻胶与基板的粘合度,使光刻胶不易从基板上剥离。
本实用新型提供一种气流控制装置,包括气体输送构件和喷头;所述喷 头包括腔体和多个喷嘴;
所述腔体上设置有进口端,所述气体输送构件上设置有出口端,所述进 口端与所述出口端连通,所述喷嘴设置在所述腔体的外壳上远离所述进口端 的一侧,且均与所述腔体相通,每个所述喷嘴与所述出口端的轴心线均呈 0-90°的夹角设置,且所有所述喷嘴将气体喷射在基板平面的面积大于所述出 口端在所述平面的投影面积。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,多个所述喷嘴围绕所述轴 心线呈多层环形分布。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,每层所述喷嘴与所述轴心 线之间的夹角均相等。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,每层所述喷嘴与所述轴心 线之间的夹角由内至外依次增大。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述腔体的外壳上远离所 述进口端的一侧呈弧面,且所述轴心线穿过所述弧面的中心。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述喷头沿所述轴心线的 方向的截面呈扇形形状。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述喷头还包括挡片和支 撑杆,所述支撑杆的一端与所述挡片连接;所述支撑杆的另一端固定设置;
所述挡片设置在所述腔体内部,当所述挡片与所述出口端投影于同一基 板平面时,所述挡片的投影区域位于所述出口端的投影区域的中部。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述气流控制装置还包括 调节构件;所述支撑杆远离所述挡片的一端设有螺纹;所述调节构件包括与 所述支撑杆螺纹连接的螺母和开孔;
所述气体输送构件包括盖板和气体输送通道,所述气体输送通道设置在 所述盖板内部,所述出口端设置在所述盖板的底部,所述开孔设置在所述盖 板背离所述出口端的一侧,且与所述轴心线共轴设置;
所述支撑杆远离所述挡片的一端由所述气体输送通道穿过所述开孔,并 与所述螺母螺纹配合。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述调节构件还包括密封 垫片,所述密封垫片套设在所述支撑杆上,且位于所述螺母与所述盖板的外 壁之间。
进一步可选地,上述所述的气流控制装置中,所述喷头与所述盖板分开 设置或者为一体化结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造