[实用新型]一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线有效
| 申请号： | 201620113670.9 | 申请日： | 2016-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN205374822U | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 严付安;杜金能 | 申请（专利权）人： | 四川灿光光电有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/38 | 分类号： | G02B6/38 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人： | 李鹏;王敏锋 |
| 地址： | 620500 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 器件 耦合 测试 衰减 光纤 跳线 | ||
【权利要求书】：
1.一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，包括光接头（15），其特征在于，光接头（15）与光纤（1）一端连接，光纤（1）另一端依次穿过尾套（2）、安装筒（3）并与插芯座（6）一端连接，插芯座（6）另一端与插芯（7）一端连接，插芯座（6）上套设有弹簧（5），安装筒（3）内设置有凸台（4），插芯座（6）上设置有限位环（13），弹簧（5）两端分别与凸台（4）和限位环（13）相抵，安装筒（3）外套设有内壳（9），内壳（9）外套设有外壳（10），外壳（10）与尾套（2）连接，插芯（7）另一端为测试端，测试端依次穿出内壳（9）和外壳（10），测试端的端面上设置有铜套安装柱（12），铜套安装柱（12）上安装有铜套（8），铜套（8）的外径与测试端的外径相同，铜套（8）的端面的中心设置有光通孔（801）。
2.根据权利要求1所述的一种光器件耦合测试用带衰减光纤跳线，其特征在于，所述的铜套（8）的端面的边沿设置有倒角（802）。
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