[实用新型]一种氮化镓基发光二极管的外延片有效
申请号: | 201620807929.X | 申请日: | 2016-07-29 |
公开(公告)号: | CN206364045U | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 李红丽;万林;胡加辉 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/14;H01L23/60 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 发光二极管 外延 | ||
1.一种氮化镓基发光二极管的外延片,所述外延片包括依次层叠的衬底、缓冲层、非掺杂GaN层、N型接触层、有源层、P型电子阻挡层和P型接触层,其特征在于,所述外延片还包括夹设在所述N型接触层和所述有源层之间的应力释放层,所述应力释放层包括依次层叠在所述N型接触层上的第一子层、第二子层和第三子层,所述第一子层为N型掺杂的第一GaN层,所述第二子层包括交替层叠的InxGa1-xN层和N型掺杂的第二GaN层,所述第三子层包括N型掺杂的第三GaN层、或者包括交替层叠的非掺杂的第四GaN层和N型掺杂的第五GaN层、或者包括多层N型掺杂的第六GaN层,相邻两层所述第六GaN层的掺杂浓度不同。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述第三GaN层的掺杂浓度保持不变、先降低再升高、或者先升高再降低。
3.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述第二GaN层的掺杂浓度在所述应力释放层中最高或最低。
4.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述第三子层的厚度在所述应力释放层中最大。
5.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述第三子层的厚度为500~1400nm。
6.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述InxGa1-xN层和所述第二GaN层交替层叠的周期数为2~10。
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