[实用新型]辐射检查系统有效
申请号: | 201621129695.4 | 申请日: | 2016-10-17 |
公开(公告)号: | CN207263664U | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 李苏祺;郑建斌;胡晓伟;王彦华;王少锋;曹艳锋 | 申请(专利权)人: | 北京君和信达科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/203;G01V5/00 |
代理公司: | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 100088 北京市西*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 检查 系统 | ||
1.一种辐射检查系统,用于在与被检测物体之间具有相对运动的情况下对其进行辐射检查,其特征在于,包括:
辐射成像装置,用于逐列扫描被检测物体,以得到所述被检测物体的多个列扫描图像,所述列的方向基本上垂直于所述相对运动的方向;
可见光成像装置,在辐射检查过程中与所述辐射成像装置具有固定的相对位置关系,用于在所述辐射检查过程中,对所述被检测物体进行光学成像,以得到所述被检测物体的一个或多个光学图像,
其中,基于预定的匹配规则,能够建立对应于同一被检测物体的所述列扫描图像和所述光学图像之间的对应关系。
2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,还包括:
显示器,用于同步显示相对应的所述列扫描图像和所述光学图像。
3.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,还包括:定位装置,用于在所述辐射检查过程中,以第三采集频率采集所述辐射成像装置相对于所述被检测物体的相对位移数据,
其中,所述辐射成像装置以第一成像频率对所述被检测物体进行逐列扫描,所述可见光成像装置以第二成像频率对所述被检测物体进行光学成像,
基于所述定位装置在所述列扫描图像的扫描成像时间前后采集的一个或多个相对位移数据,能够确定第一相对位置关系,基于所述定位装置在所述光学图像的拍摄时间前后采集的一个或多个相对位移数据,能够确定第二相对位置关系,基于所述第一相对位置关系和所述第二相对位置关系能够建立对应于同一被检测物体的所述列扫描图像和所述光学图像之间的对应关系。
4.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述辐射成像装置设置在可移动平台上,所述辐射成像装置能够随着所述可移动平台整体移动,
所述定位装置包括编码器,所述编码器设置在所述可移动平台的移动机构处。
5.根据权利要求4所述的辐射检查系统,其特征在于,
响应于所述辐射成像装置开始逐列扫描所述被检测物体,所述编码器开始计数,其中,所述可移动平台每移动预定距离,所述编码器进行一次计数。
6.根据权利要求3所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述定位装置以所述第三采集频率采集所述定位装置相对于所述被检测物体的相对速度,以得到一个或多个相对速度数据,根据所述第三采集频率以及所述相对速度数据,确定一个或多个所述相对位移数据。
7.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述可见光成像装置为线阵相机,用于逐列对所述被检测物体进行光学成像,或者,所述可见光成像装置为面阵相机或摄像装置。
8.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,
所述可见光成像装置设置在所述辐射成像装置的扫描射线的出射位置,或者
所述可见光成像装置设置在偏离所述辐射成像装置的扫描射线的出射位置预定距离处。
9.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,所述辐射成像装置包括:
辐射源,用于产生X射线;
射线调制装置,用于对所述辐射源产生的X射线进行调制,以形成扫描射线束;以及
探测器,用于检测所述扫描射线束透过所述被检测物体后到达所述探测器的强度,或者检测从所述被检测物体散射的散射射线束的强度。
10.根据权利要求1所述的辐射检查系统,其特征在于,还包括:
GPS定位设备,用于在所述辐射检查过程中,获取所述辐射成像装置的地理位置信息;和/或
标识识别设备,用于在所述辐射检查过程中,识别所述被检测物体的标识信息。
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