[实用新型]具有双通道光路系统的荧光计

权利要求书

1.具有双通道光路系统的荧光计，包括基座，设置在基座上的样品座，设置在基座上的通向样品座的第一光路通道和第一检测通道，与所述第一光路通道配合的第一光源，与所述第一检测通道配合的第一荧光分析系统，所述第一光源的光经过所述第一光路通道射向所述样品座上的样品，样品产生的荧光穿过所述第一检测通道，所述第一荧光分析系统用于分析经过所述第一检测通道射的所述荧光，

其特征在于所述基座上还设有第二光路通道和第二检测通道，与所述第二光路通道配合的第二光源，与所述第二检测通道配合的第二荧光分析系统，所述第二光源的光经过所述第二检测通道射向所述样品座上的样品，样品产生的荧光穿过所述第二检测通道，所述第二荧光分析系统用于分析经过所述第二检测通道射的所述荧光。

2.根据权利要求1所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一光路通道和第一检测通道呈90度布置，所述第二光路通道和第二检测通道呈90度布置。

3.根据权利要求2所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一光路通道、第一检测通道、第二光路通道和第二检测通道分别设置在同一平面、并分布于所述样品座的四周。

4.根据权利要求1或2或3所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一光路通道和所述第二光路通道上分别设置一第一光源反馈强度检测器和一第二光源反馈强度检测器。

5.根据权利要求4所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述的基座上分别设置第一光强度检测通道和第二光强度检测通道，所述第一光强度检测通道与所述第一光路通道连通，所述第二光强度检测通道与所述第二光路通道连通，所述第一光源反馈强度检测器与所述第一光强度检测通道配合，所述第二光源反馈强度检测器与所述第二光强度检测通道配合。

6.根据权利要求1或2或3所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一光路通道的出口位置设置第一光学发射窗；所述第二光路通道的出口位置设置第二光学发射窗。

7.根据权利要求6所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一光源和第二光源都包括LED光源、设置在LED光源出光方向的激发滤光片，所述光学发射窗分别设置在对应的激发滤光片的出光方向。

8.根据权利要求6所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述第一荧光分析系统和第二荧光分析系统都包括接收对应检测通道的光的聚光透镜、设置在聚光透镜出光方向的发射滤光片，和设置在发射滤光片出光方向的光信号检测器。

9.根据权利要求8所述的具有双通道光路系统的荧光计，其特征在于所述聚光透镜为双凸透镜或平凸透镜，样品座中心到聚光透镜的距离由聚光透镜的焦距决定。