[实用新型]具有双通道光路系统的荧光计

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种荧光计，尤其涉及一种具有双通道光路系统的荧光计。

背景技术

荧光分析是指利用某些物质在紫外光照射下产生荧光的特性及其强度进行物质的定性和定量的分析的方法。

荧光定量分析是先将已知的荧光物质配成不同浓度的标准溶液，用荧光分光光度计测量其在某一波长处的荧光强度并绘制标准曲线，而后在完全相同的条件下测量试样的荧光强度，由标准曲线查出待测物质的含量。荧光染料的发展，使荧光分析广泛应用于荧光免疫，荧光探针，细胞染色等领域；包括特异性的DNA染色，用于染色体分析、细胞周期、细胞凋亡等相关研究。

现有的荧光计通常只具备一条光路通道和一条荧光分析系统，与光路通道配合的光源只能发射一种波长的光，配置的滤光片也只能过滤一种情形的波长。如果需要对检测物质激发不同的荧光，需要不同的设备、通过不同波长的光激发，因此不仅需要配备多种荧光计设备，满足要求。配备的设备不仅占用地方，而且配置成本高。检测时，需要将检测物质从一台设备上移到另外一台设备上，操作较为繁杂，在移动过程中也存在掉落检测物质或污染检测物质的可能。

发明内容

本实用新型的目的在于解决现有技术存在的上述问题而提供一种具有双通道光路系统的荧光计，在一台设备上能够先后激发两种荧光，满足两种条件的检测，使一台设备具备两台设备的检测功能，能够减少检测设备的数量，减少占用空间，降低配置成本，也降低检测物质在移动过程中存在掉落检测物质或污染检测物质的可能的几率。

本实用新型的上述技术目的主要是通过以下技术方案解决的：具有双通道光路系统的荧光计，包括基座，设置在基座上的样品座，设置在基座上的通向样品座的第一光路通道和第一检测通道，与所述第一光路通道配合的第一光源，与所述第一检测通道配合的第一荧光分析系统，所述第一光源的光经过所述第一光路通道射向所述样品座上的样品，样品产生的荧光穿过所述第一检测通道，所述第一荧光分析系统用于分析经过所述第一检测通道射的所述荧光，

其特征在于所述基座上还设有第二光路通道和第二检测通道，与所述第二光路通道配合的第二光源，与所述第二检测通道配合的第二荧光分析系统，所述第二光源的光经过所述第二检测通道射向所述样品座上的样品，样品产生的荧光穿过所述第二检测通道，所述第二荧光分析系统用于分析经过所述第二检测通道射的所述荧光。

两条光路通道的激发光源配置成不同波长的光源。两光路通道的滤光片分别配置成过滤不同的波长两种滤光片。在一台设备上能够先后激发两种荧光，满足两种条件的检测，使一台设备具备两台设备的检测功能，能够减少检测设备的数量，减少占用空间，降低配置成本，也降低检测物质在移动过程中存在掉落检测物质或污染检测物质的可能的几率。

由于两光路通道激发光源、滤光片被设置成不同的波长，能够满足不同样品或对同一样品在不同波长情况下进行检测。检测时，仅一组光路通道和检测通道参与工作，当这条光路通道和检测通道完成检测后，另外一组的组光路通道和检测通道参与工作，使检测样品接收不同波长、激发不同荧光。

作为对上述技术方案的进一步完善和补充，本实用新型采用如下技术措施：所述第一光路通道和第一检测通道呈90度布置，所述第二光路通道和第二检测通道呈90度布置。当然，若配置三组或三组以上的光路通道和检测通道的组合，则每组光路通道和检测通道呈中心对称分布在样品座的周围，即对于一组组合内的光路通道和检测通道来说，呈60度或者45度的布置，也是属于本技术方案包含范围。对应的光路通道和检测通道呈90度布置，为较佳方案。

所述第一光路通道、第一检测通道、第二光路通道和第二检测通道分别设置在同一平面、并分布于所述样品座的四周，两组光路通道和检测通道呈中心对称分布。

所述第一光路通道和所述第二光路通道上分别设置一第一光源反馈强度检测器和一第二光源反馈强度检测器，用于实时检测通过每条光路通道的光的强度，并反馈检测到的光源强度信息。

所述的基座上分别设置第一光强度检测通道和第二光强度检测通道，所述第一光强度检测通道与所述第一光路通道连通，所述第二光强度检测通道与所述第二光路通道连通，所述第一光源反馈强度检测器与所述第一光强度检测通道配合，所述第二光源反馈强度检测器与所述第二光强度检测通道配合。为了