[实用新型]一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统

权利要求书

1.一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其特征在于，包括：

TFT阵列基板，其每一像素电路由多个串联的TFT晶体管控制；

背光源和偏光片，所述偏光片位于所述TFT阵列基板和背光源之间；

测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压；其中，

所述TFT阵列基板包括阵列排布的多个像素电路、多条栅线和多条数据线，每一像素电路包括串联设置的多个TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极；一条栅线分别控制相邻像素电路内的不同位置的TFT晶体管的栅极，一条数据线控制连接一排或一列像素电路内的第1个晶体管的源极；每一像素电路内的第N个晶体管的漏极连接像素电极；

所述测试仪的VGO端经第一栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数栅线连接以向所述偶数栅线输出电压；所述测试仪的VGE端经第二栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数栅线连接以向所述奇数栅线输出电压；所述测试仪的VDR端经第一数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数数据线连接以导通所述偶数数据线；所述测试仪的VDG端经第二数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数数据线连接以导通所述奇数数据线；所述测试仪的Vcom端与所述TFT阵列基板的公共电极连接以向所述公共电极输出电压。

2.根据权利要求1所述的TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其特征在于，所述多个TFT晶体管为两个TFT晶体管。

3.根据权利要求1所述的TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其特征在于，所述多个TFT晶体管为三个以上TFT晶体管。

4.根据权利要求1所述的TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其特征在于，所述第一栅线驱动器、第二栅线驱动器、第一数据线驱动器和第二数据线驱动器均包括一探针和三极管开关，所述探针一端与测试仪连接，另一端经三极管开关与所述第一栅线驱动器、第二栅线驱动器、第一数据线驱动器或第二数据线驱动器连接。