[实用新型]一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及了一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统。

背景技术

在传统的TFT-LCD中，每个像素电路内对应一个TFT晶体管。TFT晶体管的功能是一个连接数据线和像素的开关，开和关时间由扫描线控制。传统单TFT晶体管控制显示的LCD中将数据线和扫描线按照一定规律连接到测试仪信号线上，通过检测特定画面可以快速查找到点缺陷、线缺陷及其它缺陷。而随着LCD技术的不断发展，为了进一步降低LCD功耗，一种新型的超低频率的液晶显示器得以出现，此种LCD为了降低TFT晶体管中漏电流的流失，提高存储电容维持显示的时间，将一个像素电路内设置多个TFT晶体管。而在生产过程中，传统的单TFT晶体管的检测系统不能快速准确判断出面板的点缺陷和线缺陷等各种缺陷。故亟需开发一种应用于检测多个TFT晶体管控制显示的阵列基板的缺陷的快速检测系统。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供了一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其在绑定IC前，可快速检测出阵列基板的各种显示缺陷，进而避免IC的浪费，降低生产成本。

本实用新型所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其包括：

TFT阵列基板，其每一像素电路由多个串联的TFT晶体管控制；

背光源和偏光片，所述偏光片位于所述TFT阵列基板和背光源之间；

测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压；其中，

所述TFT阵列基板包括阵列排布的多个像素电路、多条栅线和多条数据线，每一像素电路包括串联设置的多个TFT晶体管、像素电极、存储电容和公共电极；一条栅线分别控制相邻像素电路内的不同位置的TFT晶体管的栅极，一条数据线控制连接一排或一列像素电路内的第1个晶体管的源极；每一像素电路内的第N个晶体管的漏极连接像素电极；

所述测试仪的VGO端经第一栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数栅线连接以向所述偶数栅线输出电压；所述测试仪的VGE端经第二栅线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数栅线连接以向所述奇数栅线输出电压；所述测试仪的VDR端经第一数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的偶数数据线连接以导通所述偶数数据线；所述测试仪的VDG端经第二数据线驱动器与所述TFT阵列基板上的奇数数据线连接以导通所述奇数数据线；所述测试仪的Vcom端与所述TFT阵列基板的公共电极连接以向所述公共电极输出电压。

作为本实用新型提供的TFT阵列基板缺陷快速检测系统的一种改进，所述多个TFT晶体管为两个TFT晶体管。

作为本实用新型提供的TFT阵列基板缺陷快速检测系统的一种改进，所述多个TFT晶体管为三个以上TFT晶体管。

作为本实用新型提供的TFT阵列基板缺陷快速检测系统的一种改进，所述第一栅线驱动器、第二栅线驱动器、第一数据线驱动器和第二数据线驱动器均包括一探针和三极管开关，所述探针一端与测试仪连接，另一端经三极管开关与所述第一栅线驱动器、第二栅线驱动器、第一数据线驱动器或第二数据线驱动器连接。

本实用新型具有如下有益效果：利用该TFT阵列基板缺陷快速检测系统，结构简单，操作方便，可在绑定IC前，快速检测出阵列基板的各种显示缺陷，进而避免IC的浪费，降低生产成本。

附图说明

图1为本实用新型快速检测系统的连接原理图，其中每一像素电路具有两个串联的TFT晶体管，左右两端引出的是数据线，下端引出的是栅线；

图2为本实用新型快速检测系统的连接原理图，其中每一像素电路具有三个串联的TFT晶体管，左右两端引出的是栅线，下端引出的是数据线。

具体实施方式

下面结合实施例对本实用新型进行详细的说明，实施例仅是本实用新型的优选实施方式，不是对本实用新型的限定。

实施例1

一种TFT阵列基板缺陷快速检测系统，其包括：

TFT阵列基板，其每一像素电路110由两个串联的TFT晶体管111、112控制；

背光源和偏光片，所述偏光片位于所述TFT阵列基板和背光源之间；

测试仪，用于向阵列基板施加预定的电压。