[实用新型]一种电容式触摸按键的测试装置及系统

权利要求书

1.一种用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于：包括容性电路(110)和电容值检测电路(120)，所述容性电路(110)的一端接地，所述容性电路(110)的另一端用于与电容式触摸按键(130)连接，所述电容值检测电路(120)的测试端用于与所述电容式触摸按键(130)连接，所述电容值检测电路(120)用于检测所述电容式触摸按键(130)的对地电容值。

2.根据权利要求1所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述容性电路包括相互串联的电容(C1)和开关模块(111)。

3.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述容性电路还包括串联在所述电容(C1)与所述开关模块(111)的电路中的测试针(112)，所述测试针(112)与所述电容式触摸按键(130)连接。

4.根据权利要求3所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述电容(C1)内置于所述测试针(112)中。

5.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括第一NMOS管(Q1)，所述第一NMOS管(Q1)的栅极为所述开关模块(111)的控制端，所述第一NMOS管(Q1)的漏极与所述电容(C1)的一端相连，所述第一NMOS管(Q1)的源极接地。

6.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括第二NMOS管(Q2)和第三NMOS管(Q3)，所述第二NMOS管(Q2)的栅极和第三NMOS管(Q3)的栅极相连作为所述开关模块(111)的控制端，第二NMOS管(Q2)的漏极与第三NMOS管(Q3)的漏极相连，所述第二NMOS管(Q2)的源极接地，所述第三NMOS管(Q3)的源极与所述电容(C1)的一端相连。

7.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括继电器(1111)。

8.根据权利要求7所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)还包括NPN三极管(Q4)，其中，所述继电器(1111)的线圈的一端与所述NPN三极管(Q4)的集电极相连，所述继电器(1111)的触点开关与所述电容(C1)串联，所述NPN三极管(Q4)的基极为所述开关模块(111)的控制端，所述NPN三极管(Q4)的发射极接地。

9.一种用于电容式触摸按键的测试系统，其特征在于，包括测试台(210)和如权利要求1至8任一项所述的用于电容式触摸按键的测试装置(220)，所述测试台上设置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安装电容式触摸按键(130)，所述第二卡槽用于安装所述用于电容式触摸按键的测试装置(220)。

10.根据权利要求9所述的用于电容式触摸按键的测试系统，其特征在于，还包括工控机(230)，所述工控机(230)的输出端与所述容性电路(110)的控制端相连，所述工控机(230)输出所述容性电路(110)的控制信号，控制所述容性电路(110)与所述电容式触摸按键(130)的通断。