[实用新型]一种电容式触摸按键的测试装置及系统

说明书

技术领域

本实用新型实施例涉及测试装置技术，尤其涉及一种用于电容式触摸按键的测试装置及系统。

背景技术

现在的终端设备大多可以实现触控操作，即用户通过手指触摸触控屏来实现各种控制指令的触发，尤其是智能手机和平板电脑等移动终端，更是离不开触控操作。

目前测试电容式触摸按键性能是通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试的。这种人工操作的测试方法，测试效率低，使得产品的生产周期长，生产效率低。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种用于电容式触摸按键的测试装置及系统，以提高测试效率。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种用于电容式触摸按键的测试装置，该装置包括容性电路和电容值检测电路，所述容性电路的一端接地，所述容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路的测试端用于与所述电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路用于检测所述电容式触摸按键的对地电容值。

进一步地，所述容性电路包括相互串联的电容和开关模块。

进一步地，所述容性电路还包括串联在所述电容与所述开关模块的电路中的测试针，所述测试针与所述电容式触摸按键连接。

进一步地，所述电容内置于所述测试针中。

进一步地，所述开关模块包括第一NMOS管，所述第一NMOS管的栅极为所述开关模块的控制端，所述第一NMOS管的漏极与所述电容的一端相连，所述第一NMOS管的源极接地。

进一步地，所述开关模块包括第二NMOS管和第三NMOS管，所述第二NMOS管的栅极和第三NMOS管的栅极相连作为所述开关模块的控制端，第二NMOS管的漏极与第三NMOS管的漏极相连，所述第二NMOS管的源极接地，所述第三NMOS管的源极与所述电容的一端相连。

进一步地，所述开关模块包括继电器。

进一步地，所述开关模块还包括NPN三极管，其中，所述继电器的线圈的一端与所述NPN三极管的集电极相连，所述继电器的触点开关与所述电容串联，所述NPN三极管的基极为所述开关模块的控制端，所述NPN三极管的发射极接地。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种用于电容式触摸按键的测试系统，该测试系统包括测试台和如本实用新型任意实施例提供的用于电容式触摸按键的测试装置，所述测试台上设置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安装电容式触摸按键，所述第二卡槽用于安装所述用于电容式触摸按键的测试装置。

进一步地，还包括工控机，所述工控机的输出端与所述容性电路的控制端相连，所述工控机输出所述容性电路的控制信号，控制所述容性电路与所述电容式触摸按键的通断。

本实用新型实施例，通过将容性电路的一端接地，容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，进而控制容性电路的另一端与电容式触摸按键的连接状态或方式，来模拟手指是否触摸电容式触摸按键的情况，并通过电容值检测电路检测电容式触摸按键的对地电容值，可以根据该电容值，获取输入的触摸参数，解决了对具有触控功能的终端设备等进行测试时，只能通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试，从而造成测试效率低的问题，使得测试过程达到自动化，进而提高测试效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例一中提供的一种用于电容式触摸按键的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例一中提供的另一种用于电容式触摸按键的测试装置的结构示意图；

图3是本实用新型实施例一中提供的一种开关模块的结构示意图；

图4是本实用新型实施例一中提供的另一种开关模块的结构示意图；

图5是本实用新型实施例一中提供的另一种开关模块的结构示意图；

图6是本实用新型实施例二中提供的一种用于电容式触摸按键的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

实施例一