[实用新型]测量系统有效
申请号: | 201621401280.8 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN206413016U | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | 罗庆春;沈鹏辉;于伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市通用测试系统有限公司 |
主分类号: | H04B17/10 | 分类号: | H04B17/10;H04B17/20;H04B17/345 |
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地址: | 518101 广东省深圳市宝安区西*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 系统 | ||
1.一种测量系统,包括电波暗室,转台,N个测量天线,所述N为自然数且N≥11,其特征在于,以被测件中心为原点建立球面坐标系,所述测量天线的分布为其中i=1,2,3,…,N,为第i个测量天线的球面坐标,其中:
θi为15°的正整数倍,并且在θ角度为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别至少包含一个测量天线;
并且N个测量天线不在同一平面上。
2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,任意两个测量天线与所述原点组成的夹角中,以所述原点为顶点的夹角α的范围为15°≤α<180°。
3.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,所述夹角α的范围为15°≤α≤165°。
4.根据权利要求3所述的测量系统,其特征在于,所述夹角α的范围为30°≤α≤150°。
5.根据权利要求1-4任一所述的测量系统,其特征在于,所述N=11。
6.根据权利要求1-4任一所述的测量系统,其特征在于,当所述i赋值时,所述ρi=ρ。
7.根据权利要求1-4任一所述的测量系统,其特征在于,N个测量天线分布于两个平面上。
8.根据权利要求1-4任一所述的测量系统,其特征在于,N个测量天线分布于两个互相垂直的平面上。
9.根据权利要求1-4任一所述的测量系统,其特征在于,N个测量天线分 布于三个平面上。
10.根据权利要求6所述的测量系统,其特征在于,测量天线的分布为A1(ρ,15°,0°),A2(ρ,30°,90°),A3(ρ,45°,0°),A4(ρ,60°,90°),A5(ρ,75°,180°),A6(ρ,90°,90°),A7(ρ,105°,180°),A8(ρ,120°,90°),A9(ρ,135°,0°),A10(ρ,150°,90°),A11(ρ,165°,0°)。
11.根据权利要求6所述的测量系统,其特征在于,测量天线的分布为A1(ρ,15°,0°),A2(ρ,30°,90°),A3(ρ,45°,0°),A4(ρ,60°,90°),A5(ρ,75°,0°),A6(ρ,90°,90°),A7(ρ,105°,0°),A8(ρ,120°,90°),A9(ρ,135°,0°),A10(ρ,150°,90°),A11(ρ,165°,0°)。
12.根据权利要求6所述的测量系统,其特征在于,测量天线的分布为A1(ρ,15°,90°),A2(ρ,30°,270°),A3(ρ,45°,180°),A4(ρ,60°,90°),A5(ρ,75°,0°),A6(ρ,90°,270°),A7(ρ,105°,90°),A8(ρ,120°,180°),A9(ρ,135°,270°),A10(ρ,150°,0°),A11(ρ,165°,180°)。
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