[实用新型]测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及通信领域，具体而言，涉及一种用于无线性能参数测量的系统。

背景技术

依据国际标准组织CTIA(移动通信网络协会)标准，天线和无线设备的无线性能测量需要在以被测件为球心的球面上，在不同空间位置对被测件进行测量后，将所有测量结果综合计算得出相应指标，无线终端的测量指标在满足要求后才可以注册入网。为了保证测量的准确性，测量需要在电波暗室中进行，以消除外界环境的噪声干扰。CTIA发布的白皮书对暗室测量环境有极其严格的要求，暗室内部信号的反射造成的干扰需控制在一定程度，保证暗室内部是一个干净、无反射电磁波的、类似无限远真空的环境，以保证无线终端性能测量的准确性。

依据CTIA测量规定，无线性能测量需要以被测件为球心，测量其整个球面各个坐标点的性能值。以被测件为中心的球坐标系为例，无线终端的3D无线性能测量要求在θ轴和轴最小以15°为步进进行无线性能采样测量。为了满足这样的3D测量要求，目前的测量系统可以分为以下几类：

第一类是单天线测量系统，其典型结构图如图1和图2所示，其中图1为单天线三维转台的系统，被测件放置在三维转台的轴心，测量天线固定，被测件通过三维转台绕θ轴和轴转动，实现被测件的整个球面的无线性能测量。图2为单天线二维转台系统，被测件通过二维转台绕轴转动，测量天线通过环型转动结构绕θ轴转动，通过转台转动和天线转动的组合实现被测件的整个球面的无线性能测量。然而这类测量系统存在以下缺陷：(1)测量速度慢，测量时间较长；(2)图1中的三维转台系统以及图2中的天线环型转动结构会加大暗室设计和建造难度；(3)更重要的是，这些放置在暗室内部的机械装置会导致暗室内部电磁波反射增加，反射的电磁波对于测量而言相当于噪声，造成微波暗室不纯净，无法模拟无限远极低反射的真空环境，从而造成了无线设备性能测量的不准确性。

第二类是多天线测量系统。其中一种典型的结构如图3a所示，在θ角为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别布置两个测量天线，天线之间相对位置固定，被测件放置在二维转台上，转台沿轴转动180°，被测件的3D无线性能指标就可以被获取。或者，如图3b或图3c所示，在θ角为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别布置一个测量天线，被测件放置在二维转台上，转台沿轴转动360°，被测件的3D无线性能指标就可以被获取。这类测量系统测量速度快，测量时间段，然而仍然存在缺陷：(1)在暗室空间不是足够大时，在同一平面设置多个测量天线会导致天线之间的距离较小，即天线之间隔离度不够，临近天线之间的耦合干扰会带来测量误差；(2)由于测量天线本身也是信号发射源，是暗室内部存在的导电介质，当一个测量天线在发射测量信号时，其他的天线可认为是反射源。因此，多测量天线的系统中，任一个测量天线正前方小角度范围内都存在反射源，这会增大暗室反射，同样会导致测量不准确。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于克服现有技术的不足，提供一种多天线测量系统，可以极大地降低现有技术中多天线测量系统中测量天线之间的噪声干扰，极大地提高测量的准确性。

为实现上述目的，本实用新型第一方面实施例提出了一种技术方案：

一种测量系统，包括电波暗室，转台，N个测量天线(N为自然数且N≥11)，其特征在于，以被测件中心为原点建立球面坐标系，所述测量天线的分布为(i＝1,2,3,…,N)，其中：

θ_i为15°的正整数倍，并且在θ角度为15°、30°、45°、60°、75°、90°、105°、120°、135°、150°、165°处分别至少包含一个测量天线；

并且N个测量天线不在同一平面上。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，任意两个测量天线与所述原点组成的夹角中，以所述原点为顶点的夹角α的范围为15°≤α＜180°。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，所述夹角α的范围为15°≤α≤165°。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，所述夹角α的范围为30°≤α≤150°。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，所述N＝11。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，所述ρ_i＝ρ(i＝1,2,3,…,N)。

进一步，在本实用新型的一种实施例中，N个测量天线分布于两个平面上。