[实用新型]双能探测器及辐射检查系统

权利要求书

1.一种双能探测器，其特征在于，包括：探测器模块安装架(3)和多个探测器模块(4)，所述探测器模块(4)包括高能探测器阵列(43)和低能探测器阵列(41)，所述高能探测器阵列(43)与所述低能探测器阵列(41)相对于所述探测器模块安装架(3)上的同一安装平面并列设置。

2.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，每个所述探测器模块(4)中的所述高能探测器阵列(43)与所述低能探测器阵列(41)相互邻接设置。

3.根据权利要求1所述的双能探测器，其特征在于，多个所述探测器模块(4)在所述探测器模块安装架(3)上的同一安装平面上邻接设置。

4.根据权利要求3所述的双能探测器，其特征在于，所述多个所述探测器模块(4)在所述探测器模块安装架(3)上沿直线顺序排列。

5.根据权利要求3所述的双能探测器，其特征在于，多个所述探测器模块(4)在所述探测器模块安装架(3)上的安装平面上设置为多排，各排所述探测器模块(4)平行邻接设置。

6.根据权利要求1～5任一所述的双能探测器，其特征在于，所述高能探测器阵列(43)和/或所述低能探测器阵列(41)中包括的各个探测器单元之间设有重金属隔离片(47)。

7.根据权利要求1～5任一所述的双能探测器，其特征在于，所述高能探测器阵列(43)上靠近射线源的一侧还设有滤波片(44)。

8.根据权利要求1～5任一所述的双能探测器，其特征在于，所述高能探测器阵列(43)的灵敏介质的密度高于所述低能探测器阵列(41)的密度，和/或所述高能探测器阵列(43)的灵敏介质的有效原子序数高于所述低能探测器阵列(41)的有效原子序数。

9.根据权利要求1～5任一所述的双能探测器，其特征在于，所述低能探测器阵列(41)的灵敏介质的闪烁效率高于所述高能探测器阵列(43)。

10.一种辐射检查系统，其特征在于，包括权利要求1～9任一所述的双能探测器。